內容簡介
全書分為5章,章介紹HEMP技術發展歷程、環境、試驗、防護等基本概念;第2章介紹HEMP環境產生的物理機理以及輻射模擬環境;第3章介紹HEMP對電子繫統的干擾損傷效應以及傳導模擬環境;第4章介紹HEMP模擬試驗技術;第5章介紹電子繫統HEMP防護技術。編寫力求提綱挈領、簡明扼要,較完整的反映靠前HEMP技術研究經驗和思路。
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