可靠性物理
作 者:恩雲飛,謝少鋒,何小琦 編著;工業和信息化部電子第五研究所 組編
定 價:88
出 版 社:電子工業出版社
出版日期:2015年10月01日
頁 數:426
裝 幀:平裝
ISBN:9787121272325
內容簡介
本選題全面闡述器件可靠性物理的基本器件失效機理。全書共14章,前3章介紹可靠性物理基本理論、電子材料和應力、典型失效物理模型,後八章分別論述了微電子器件、光電子器件、高密度集成電路等11器件的工藝結構、失效機理及數理模型。
恩雲飛,謝少鋒,何小琦 編著;工業和信息化部電子第五研究所 組編
恩雲飛,工業和信息化部電子第五研究所研究員,*國電子學會可靠性分會委員,*國電子學會真空電子分會委員,*國電子學會第八屆理事會青年與志願者工作委員會委員,廣東省電子學會理事,《失效分析與預防》編委會委員,長期從器件可靠性工作,器件可靠性物理、評價及試驗方法等方面取得顯著研究成果,先後獲省部級科技獎勵10項,發表學術論文40餘篇,申請及授權國家發明專利10餘項。
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