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產品名稱:半導體集成電路 ISBN編號:9787121271601 書名:半導體集成電路 出版時間:2015.10 代碼:88 是否是套裝:否 正:副書名:半導體集成電路
" 半導體集成電路的可靠性及評價方法 作 者:章曉文,恩雲飛 編著;工業和信息化部電子第五研究所 組編 著作 定 價:88 出 版 社:電子工業出版社 出版日期:2015年10月01日 頁 數:394 裝 幀:平裝 ISBN:9787121271601 內容簡介 本書共11章,以硅集成電路為中心,重點介紹了半導體集成電路及其可靠性的發展演變過程、集成電路制造的基本工藝、半導體集成電路的主要失效機理、可靠性數學、可靠性測試結構的設計、MOS場效應管的特性、失效機理的可靠性仿真和評價。隨著集成電路設計規模越來越大,設計可靠性越來越重要,在設計階段借助可靠性仿真技術,評價設計出的集成電路可靠性能力,針對電路設計中的可靠性薄弱環節,通過設計加固,可以有效提高產品的可靠性水平,提高產品的競爭力。 ●第1章緒論(1) ●1.1半導體集成電路的發展過程(1) ●1.2半導體集成電路的分類(4) ●1.2.1按半導體集成電路規模分類(4) ●1.2.2按電路功能分類(5) ●1.2.3按有源器件的類型分類(6) ●1.2.4按應用性質分類(6) ●1.3半導體集成電路的發展特點(6) ●1.3.1集成度不斷提高(7) ●1.3.2器件的特征尺寸不斷縮小(7) ●1.3.3專業化分工發展成熟(8) ●1.3.4繫統集成芯片的發展(9) ●1.3.5半導體集成電路帶動其他學科的發展(9) ●1.4半導體集成電路可靠性評估體繫(10) ●1.4.1工藝可靠性評估(10) ●1.4.2集成電路的主要失效模式(11) ●1.4.3集成電路的主要失效機理(15) ●1.4.4集成電路可靠性面臨的挑戰(16) ●參考文獻(20) ●第2章半導體集成電路的基本工藝(21)...... 章曉文,恩雲飛 編著;工業和信息化部電子第五研究所 組編 著作 章曉文,工業和信息化部電子第五研究所不錯工程師,長期從器件可靠性工作,器件可靠性物理、評價及試驗方法等方面取得顯著研究成果,先後獲省部級科技獎勵3項,發表學術論文40餘篇,實用新型專利授權一項,申請國家發明專利4項。 "![](http://img.alicdn.com/imgextra/i2/2455124912/TB26FPTobZnBKNjSZFGXXbt3FXa_!!2455124912-0-item_pic.jpg)
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