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  • 嵌入式繫統可靠性設計技術及案例解析第2版 武曄卿,王廣輝,彭耀光
    該商品所屬分類:計算機/網絡 -> 計算機/網絡
    【市場價】
    320-464
    【優惠價】
    200-290
    【出版社】北京航空航天大學出版社 
    【ISBN】9787512418943
    【折扣說明】一次購物滿999元台幣免運費+贈品
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    內容介紹



    產品名稱:嵌入式繫統可靠性設計技術...
    是否是套裝:否
    書名:嵌入式繫統可靠性設計技術及案例解析(第2版) 嵌入式繫統可靠性設計技術及案例解析(第2版)

    代碼:39
    出版社名稱:北京航空航天大學出版社
    出版時間:2015年11月

    作者:無
    編者:武曄卿,王廣輝,彭耀光 >編者: 編者:武曄卿,王廣輝,彭耀光 武曄卿,王廣輝,彭耀光
    開本:16開

    ISBN編號:9787512418943

        
        
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    嵌入式繫統可靠性設計技術及案例解析

    作  者:武曄卿,王廣輝,彭耀光 編著
    定  價:39
    出 版 社:北京航空航天大學出版社
    出版日期:2015年11月01日
    頁  數:243
    裝  幀:平裝
    ISBN:9787512418943
    目錄
    第0章可靠性設計方法論
    0.1可靠性設計的目的
    0.2可靠性設計的內容
    0.2.1繫統設計
    0.2.2容差設計
    0.2.3可靠性目標
    0.2.4實現手段
    第1章可靠性技術的基礎內容
    1.1嵌入式繫統失效率影響要素
    1.1.1器件選型
    1.1.2降額
    1.1.3環境條件
    1.1.4機械結構因子
    1.器件的個數
    1.2嵌入式繫統失效率曲線
    1.3嵌入式繫統可靠性模型
    1.4可靠性與RAMS
    1.5工作環境條件的確定
    1.6容差分析與精度分配方法
    1.7過渡過程......
    內容虛線

    內容簡介

    《嵌入式繫統可靠性設計技術及案例解析(第2版)》介紹了嵌入式繫統設計中,哪些地方很可能帶來可靠性隱患,以及從設計上如何進行預防。內容包括:啟動過程和穩態工作中的應力狀態差別等可靠性基礎知識及方法;降額參數和降額因子的選擇方法;風扇和散熱片的定量化計算選型和測試方法、結構和電路的熱設計規範;PCB板布線布局、繫統結構的電磁兼容措施;電子產品制造過程中的失效因素(包括EOS、ESD、MSD等)及預防、檢驗方法;可維修性設計規範、可用性設計規範、安全性設計規範、接口軟件可靠性設計規範等方面的技術內容。同時,針對相關內容進行實際的案例分析,以使讀者更好地掌握這些知識。

    作者簡介

    武曄卿,王廣輝,彭耀光 編著

    武曄卿,工學碩士,瑞迪航科(北京)技術有限公司技術總監,專注於電子繫統可靠性設計和測試技術。

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