彼得森編寫的《空間單粒子效應--影響航天電子
繫統的危險因素》主要講述電子器件在空間環境中的
單粒子效應，器件在空間應用時單粒子輻照效應的地
面評估方法，及其空間應用時的錯誤概率計算。全書
共17章，第1章和第2章主要介紹電子元器件空間單粒
子效應的基礎知識；第3章至第5章對地面模擬空間單
粒子效應的試驗進行詳細介紹、闡述試驗數據的分析
方法；第6章講述試驗數據如何與器件機理進行對應
；第7章、第8章、第11章至第17章講述空間單粒子翻
轉錯誤率的計算與空間環境中的預估；第9章和第10
章介紹兩種特殊的單粒子效應。

第1章 緒論
1.1 背景
1.2 單粒子試驗分析
1.2.1 數據完整和初始數據修正的分析
1.2.2 電荷收集試驗分析
1.2.3 從截面數據分析器件特性
1.2.4 器件敏感性參數研究分析
1.3 空間和航空電子設備SEE發生率建模
1.3.1 器件輻射環境建模
1.3.2 器件電荷收集建模
1.3.3 用於單粒子翻轉的電路特性和電路敏感度建模
1.4 本書縱覽
1.5 本書範圍
第2章 單粒子效應分析和預測基礎
2.1 單粒子效應概述
2.2 粒子能量沉積
2.3 單粒子事件環境
2.3.1 太陽風和太陽周期
2.3.2 磁層、宇宙射線和俘獲粒子運動
2.3.3 銀河宇宙射線
2.3.4 地磁場俘獲質子
2.3.5 太陽事件
2.3.6 大氣中的電離
2.4 電荷收集和翻轉
2.5 有效LET值
2.6 電荷收集體積和長方體
2.7 翻轉截面曲線
2.8 臨界電荷
2.8.1 臨界電荷和LET值閾值
2.8.2 芯片上單極晶體管和雙極型晶體管的臨界電荷
2.8.3 由電路建模研究得到的臨界電荷
2.8.4 器件截面上的敏感度分布
2.8.5 晶格內部的變化
2.8.6 臨界電荷討論總結
2.9 翻轉敏感度和特征尺寸
2.10 截面的概念
2.10.1 核物理截面的概念
2.10.2 單粒子事件截面的概念
第3章 用於分析的重離子試驗優化
3.1 試樣重離子試驗數據
3.2 試驗要求
3.3 曲線參數
3.4 角度步幅
3.5 達到飽和截面時停止數據采集
3.6 器件遮蔽效應
3.7 離子選擇
3.8 確定器件的LET值
3.9 能量損失分布
3.10 數據要求
3.1 0.1 需要的精度
3.1 0.2 需要的準確度
3.11 試驗統計和不確定性
3.12 雙重閾值效應
3.13 截面數據擬合
3.14 誤差和不確定性的其他來源
第4章 質子試驗優化
4.1 束流強度和不均勻性的監測
4.2 試驗的總劑量限制
4.3 截面曲線的外形
第5章 數據鋻定和解釋
5.1 數據特性
5.1.1 不合理誤差、繫統誤差及隨機誤差
5.1.2 固有隨機誤差
5.1.3 數據的局部標準偏差
5.1.4 數據的廢棄
5.2 問題數據的處理
5.2.1 繫統誤差檢驗
5.2.2 電壓變化實例
5.2.3 與fJFT值不一致的數據
5.2.4 束流污染
5.2.5 未觀測到的事件
5.2.6 數據的草率或錯誤擬合
5.2.7 試驗監測和計劃
……
第6章 不同類型SEU數據的分析
第7章 宇宙射線單粒子效應率計算
第8章 質子單粒子效應計算
第9章 中子誘發單粒子翻轉
**0章 重離子核反應產生的翻轉
**1章 重離子翻轉率預測實例
**2章 質子翻轉率預測
**3章 綜合環境
**4章 太陽粒子事件和**情況下的示例
**5章 中性粒子束環境翻轉率
**6章 空間單粒子翻轉率的預測和觀測
**7章 RPP方法的局限性
附錄
參考文蒯