材料的透射電子顯微學與衍射學
作 者: (美)布倫特·福爾茲(Brent Fultz),(美)詹姆斯·豪(James Howe) 著；吳自勤 等 譯
定 價: 99
出?版?社: 中國科學技術大學出版社
出版日期: 2017年01月01日
頁 數: 657
裝 幀: 平裝
ISBN: 9787312037498
內容簡介
前三章是散射、衍射和成像的一般介紹以及XRD，TEM和中子散射儀器的結構。隨後的第4章和第5章介紹了電子、X射線和原子的相互作用。在電子的彈性散射中引入原子的形狀因子，在電子的非彈性散射中專門引入截面概念，介紹的內容比實際需要深一些，以便理解第6~8章。這三章的重點是衍射、晶體學和衍射襯度。在傾向衍射和顯微學的課程繫統中，可以進一步改變第4章和第5章中準備進行不錯研究的內容。本書的核心部分是勞阨公式下的運動學衍射理論，可用來處理無序度逐步增加的晶態材料。在第8章中，重點利用相位振幅圖分析缺陷的TEM圖像的衍射襯度。在第9章中處理完衍射線寬。隨後，在**0章中利用帕特森（Patterson）函數處理短程序現像、熱漫散射和非晶態材料。在**1章中介紹了高分辨TEM圖像和像模擬。在**2章中介紹了多種現代顯微學方法。在**3章中描述了電子衍射動力學理論的主體內容。對動力學理論中有效消光長度和有效......
(美)布倫特·福爾茲(Brent Fultz),(美)詹姆斯·豪(James Howe) 著；吳自勤 等 譯
布倫特·福爾茲，美國加州理工學院應用物理和材料科學繫教授。1982年獲加州大學伯利分校博士學位。美國總統傑出青年科學家獎和美國TMS學會電子、磁學及光子材料分會傑出科學家獎得主。美國散裂中子源廣角範圍斬波器譜儀項目和美國中子散射實驗分散數據分析軟件項目的主要科學家。在利用非彈性中子散射對材料熱力學的基本理解方面作出了突出貢獻。
詹姆斯·豪，美國弗吉尼亞大學材料科學與工程繫教授。1985年獲加州大學伯利分校博士學位。美國總統傑出青年科學家獎、德國洪堡不錯研究員獎和美國材料信息學會材料科學研究銀獎得主。研究領域包括應用高分辨和分析透射電子顯微術研究材料的相變、相邊界的結構與性質等。
序
本書的目標和範圍
本教科書是為以物理科學為背景的高年級大學生和新入學的研究生而寫的。其目標是使他們盡可能快地了解透射電子顯微學（TEM）和X射線衍射學的基礎概念和一些細節，它們對材料的表征是重要的。本書話題的發展過程是和大多數近代TEM和XRD研究材料的現代水平相協調的。本書的內容也提供了進一步研究先進的散射、衍射和顯微學課題的基本準備。本書包括許多實際細節和實例，但不包含實驗室工作中的一些重要課題，如TEM樣品的制備方法等。
從2001年本書版發行以來，衍射學和顯微學方法又有了快速的進展，它們部分地受納米科學和材料技術成長的推動。在TEM中近期的重大進展是物鏡球差的實際校正。它使圖像的高分辨率（小於0.1nm）可以常規地獲得，電子能譜的能量分辨率亦有顯著的改進。材料中單個原子定位和鋻定已經從50年來的一個夢想變成今天的實驗方法。
X射線譜學和......
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