出版社:國防工業出版社 ISBN:9787118095951 商品編碼:1551635792 品牌:文軒 出版時間:2015-01-01 代碼:120 作者:吉澤徹(ToruYoshizawa)編蘇俊宏
" 作 者:(日)吉澤徹(Toru Yoshizawa) 編;蘇俊宏 等 譯 著作 定 價:120 出 版 社:國防工業出版社 出版日期:2015年01月01日 頁 數:450 裝 幀:平裝 ISBN:9787118095951 ●第一部分  器件基礎 ●第1章 光源 ● 1.1 輻射計量學和光度學 ● 1.1.1 輻射計量學和光度學的區別 ● 1.1.2 人眼 ● 1.1.3 輻射度及光度的量和單位 ● 1.1.4 光度測量技術 ● 1.1.5 色度學 ● 1.2 光發射 ● 1.2.1 黑體輻射 ● 1.2.2 冷光 ● 1.3 傳統光源 ● 1.3.1 白熾燈和鹵鎢燈 ● 1.3.2 氣體放電燈 ● 1.4 發光二極管 ● 1.4.1 LED基礎 ● 1.4.2 發光二極管材料體繫 ● 1.4.3 白光二極管 ● 1.4.4 面發射發光二極管和邊發射發光二極管 ● 1.4.5 有機發光二極管 ●部分目錄 本書是一本學術性兼顧實用性很強的著作,也是一本全面介紹現代光學測試技術的力作。全書共分三編,主要介紹了光學測試的基本理論、方法以及實際應用技術。靠前編光器件,共包含4章,主要介紹光源、透鏡、稜鏡、平面鏡、光電傳感器、光學器件及光電器件等基器件;第二編光學測量的基本原理和技術,共包含11章,主要介紹光的傳播、干涉測量原理及方法、全息技術、散斑測量方法、莫爾條紋測量、光學外差測量方法、衍射、光散射、偏振、近場光學、長度和尺寸測量等;第三編光學測量的實際應用技術,共包含15章,主要介紹位移測量技術、準直與校準、平面度、表面輪廓測量、三維形貌測量、條紋分析、攝影測量、固體力學中的光學方法、流體測量中的光學方法、偏振測量術、雙折射測量術、橢圓偏振技術、光學薄膜和鍍膜、薄膜表面和厚度輪廓儀、在線測量等。
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