●譯者序
序
作者簡介
第1章 緒論
1.1 加工測量技術的目的與測量對像
1.2 工件的幾何形狀
1.3 對形狀測量和檢驗的分類
1.4 長度、角度的單位及回溯
1.5 生產用測量機和輔助設備
1.6 坐標測量技術和坐標測量機
1.7 多傳感器測量機
1.8 發展歷史
參考文獻
第2章 測量任務
2.1 測量的目的
2.2 幾何特征的規範
2.2.1 公稱幾何體的表現形式
2.2.2 國際公差原則中的獨立原則
2.2.3 線性尺寸
2.2.4 幾何公差公差帶
2.2.5 形狀公差
2.2.6 基準和基準體繫
2.2.7 位置公差
2.3 互換性驗證
2.3.1 分離
2.3.2 提取
2.4 濾波
2.5 擬合
2.6 產品幾何技術規範及檢驗
參考文獻
第3章 基本原則和設備技術
3.1 傳統測量
3.1.1 兩點尺寸
3.1.2 三點尺寸
3.1.3 正弦臺
3.1.4 兩點距離
3.1.5 平面上的孔中心距
3.1.6 傳統測量技術的總結
3.2 坐標測量技術的基本原理
3.2.1 點的探測和擬合計算
3.2.2 替代面和替代線
3.2.3 測點的最小數量
3.2.4 探測點的數量
3.2.5 工件坐標繫的舉例
3.2.6 不同的擬合標準
3.2.7 位置偏差的定義
3.2.8 坐標測量技術的體繫
3.2.9 傳統測量技術與坐標測量技術的比較
3.3 設備技術
3.3.1 設備結構
3.3.2 探針、校正、多重探針、測頭半徑的修正
3.4 輔助設備
3.4.1 換針設備
3.4.2 旋轉測頭座
3.4.3 轉臺
3.4.4 掃描
3.4.5 自動更換工件
3.4.6 減小環境對坐標測量機的影響
3.5 替代測量法
3.6 形狀偏差的測量
參考文獻
第4章 用於坐標測量的傳感器
4.1 接觸式測量
4.1.1 引言和基礎知識
4.1.2 用於接觸式探測的傳感器
4.1.3 測量偏差
4.1.4 用於坐標測量技術的接觸式三維探測繫統實例
4.1.5 接觸式探測繫統及附件的使用
參考文獻
4.2 視覺傳感器
4.2.1 成像繫統
4.2.2 照明繫統
4.2.3 照相技術
4.2.4 圖像分析軟件
4.2.5 圖像處理傳感器在坐標測量機中的安裝
參考文獻
4.3 非接觸式距離傳感器
4.3.1 測量的基本原理
4.3.2 帶傅科刀口的距離傳感器
4.3.3 三角測量傳感器
4.3.4 攝影測量
4.3.5 條紋投影
4.3.6 變焦
4.3.7 共聚焦距離傳感器
4.3.8 白光干涉
4.3.9 錐光距離傳感器
參考文獻
4.4 掃描探針顯微技術
4.4.1 簡介與基礎知識
4.4.2 具有掃描探針顯微技術的坐標測量技術
參考文獻
第5章 優選儀器儀表工程學基礎
5.1 激光跟蹤儀
5.1.1 引言
5.1.2 應用案例
5.1.3 測量不確定度和標準
5.1.4 新技術
5.1.5 總結和展望
參考文獻
5.2 關節臂坐標測量機
5.2.1 關節臂坐標測量機的操作
5.2.2 帶線性引導的z軸關節臂坐標測量機
5.2.3 多關節臂坐標測量機
5.2.4 關節臂坐標測量機的檢測
參考文獻
5.3 3D納米測量和納米定位設備
5.3.1 引言
5.3.2 納米定位設備和納米測量設備的技術現狀
5.3.3 激光干涉儀長度測量技術
5.3.4 用於納米測量儀的激光干涉儀
5.3.5 納米坐標測量機
參考文獻
5.4 X射線斷層攝影術
5.4.1 X射線的產生
5.4.2 圖像記錄
5.4.3 機械結構與輻射防護
5.4.4 體積和測量點計算
5.4.5 X射線法的測量誤差
5.4.6 x射線斷層坐標測量機應用領域的擴展
5.4.7 x射線斷層攝影坐標測量機的應用
參考文獻
5.5 光學測量繫統
5.5.1 三角測量原理
5.5.2 主動三角測量法對工件表面的非接觸式光學檢測
5.5.3 被動三角測量法對工件表面的光學檢測
5.5.4 攝影測量跟蹤繫統的幾何測量
5.5.5 光線傳播時間法的非接觸式光學幾何測量
5.5.6 鏡面的光學幾何測量
參考文獻
5.6 多傳感器測量
5.6.1 多視角的光學測量繫統
5.6.2 多傳感器三坐標測量儀
參考文獻
5.7 室內GPS（全球定位繫統）
5.7.1 iGPS的工作原理及組成
5.7.2 測量繫統的縮放
5.7.3 測量繫統中不均勻的誤差分布
5.7.4 應用示例：機器人控制
參考文獻
5.8 集成進機床的測量技術
5.8.1 制造測量技術的定義和分類
5.8.2 預處理和後處理測量技術
5.8.3 三維校準的潛力
5.8.4 集成在機床上的傳感器
5.8.5 在線測量技術
5.8.6 氣動在線測量技術
5.8.7 未來發展
參考文獻
第6章 由設計圖經檢驗計劃再到檢測計劃
6.1 檢驗規劃介紹
6.1.1 資料審查
6.1.2 特征識別
6.1.3 檢驗特征的選擇
6.1.4 完成檢驗特征的處理（適用）
