| | | 納米材料的X射線分析 第2版 | 該商品所屬分類:圖書 -> 生物科學 | 【市場價】 | 761-1104元 | 【優惠價】 | 476-690元 | 【作者】 | 程國峰楊傳錚 | 【出版社】 | 化學工業出版社 | 【ISBN】 | 9787122334169 | 【折扣說明】 | 一次購物滿999元台幣免運費+贈品 一次購物滿2000元台幣95折+免運費+贈品 一次購物滿3000元台幣92折+免運費+贈品 一次購物滿4000元台幣88折+免運費+贈品
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出版社:化學工業出版社 ISBN:9787122334169 商品編碼:49289088536 品牌:文軒 出版時間:2019-06-01 代碼:88 作者:程國峰,楊傳錚
" 作 者:程國峰,楊傳錚 著 定 價:88 出 版 社:化學工業出版社 出版日期:2019年06月01日 頁 數:351 裝 幀:平裝 ISBN:9787122334169 ●章晶體幾何學基礎001 1.1晶體點陣/001 1.1.1點陣概念/001 1.1.2晶胞、晶繫/003 1.1.3點陣類型/003 1.2晶體的宏觀對稱性和點群/005 1.2.1宏素和宏觀對稱操作/005 1.2.2宏觀對稱性和點群/008 1.3晶體的微觀對稱性和空間群/011 1.3.1微觀對稱要素與對稱操作/011 1.3.2230種空間群/012 1.4倒易點陣/013 1.4.1倒易點陣概念的引入/013 1.4.2正點陣與倒易點陣間的幾何關繫/015 1.4.3晶帶、晶帶定律/016 1.5晶體的結合類型/017 1.5.1離子結合/017 1.5.2共價結合/019 1.5.3金屬結合/019 1.5.4分子結合/020 1.5.5氫鍵結合/020 1.5.6混合鍵晶體/020 參考文獻/021 第2章X射線衍射理論基礎022 2.1X射線及X射線譜/022 2.1.1X射線的本質/022 2.1.2X射線譜/022 2.2射線與物質的交互作用/026 2.2.1X射線的吸收/026 2.2.2激發效應/027 2.2.3X射線的折射/027 2.2.4X射線的反射/027 2.2.5物質對X射線的散射和衍射/028 2.3衍射線的方向/029 2.3.1勞阨方程/029 2.3.2布拉格定律/031 2.4多晶體衍射強度的運動學理論/035 2.4.1單個電子散射強度/035 2.4.2單個原子散射強度/036 2.4.3單個晶胞散射強度/037 2.4.4實際小晶粒積分衍射強度/039 2.4.5實際多晶體衍射強度/040 2.5X射線衍射及相關的研究方法/044 參考文獻/0452 第3章X射線衍射實驗裝置046 3.1X射線衍射儀原理和實驗技術/047 3.1.1一般特點/047 3.1.2光學原理/049 3.1.3衍射儀的準直和角度校準/050 3.1.4衍射儀參數的選擇/050 3.1.5晶體單色器/050 3.2X射線源/052 3.2.1普通X射線源/052 3.2.2同步輻射光源/054 3.3X射線探測器和記錄繫統/060 3.3.1蓋格計數器、正比計數器和閃爍計數器/060 3.3.2能量探測器/063 3.3.3面探測器/064 3.3.4陣列探測器/065 3.3.5記錄繫統的發展/066 3.4工作模式及附件/066 3.4.1粉末衍射儀的工作模式/067 3.4.2X射線粉末衍射儀中的附件/070 參考文獻/073 第4章多晶X射線衍射實驗方法074 4.1測角儀/074 4.2狹縫繫統及幾何光學/077 4.3樣品制備/078 4.3.1粉末的要求和制備/079 4.3.2填樣寬度和深度/080 4.3.3樣品的放置位置/083 4.3.4樣品顆粒粗細對數據的影響/083 4.4粉末衍射數據的獲取/084 4.4.1波長的選擇/084 4.4.2單色化/085 4.4.3功率設定/085 4.4.4步進掃描/086 4.4.5連續掃描/086 4.4.6掃描範圍/087 4.5實驗方法和數據處理方法對實驗結果的影響/087 4.6X射線的安全與防護/088 參考文獻/089 第5章物相定性分析091 5.1物相定性原理和ICDD數據庫/091 5.1.1物相定性分析的原理和方法/091 5.1.2粉末衍射卡組(PDF)及其索引/092 5.1.3PDF數據庫/96 5.2定性分析的步驟/100 5.2.1實驗獲得待檢測物質的衍射數據/100 5.2.2數據觀測與分析/101 5.2.3檢索和匹配/101 5.2.4最後判斷/101 5.2.5具體示例/102 5.3定性分析的計算機檢索/104 5.3.1PCPDFWIN定性相分析繫統的應用/104 5.3.2Jade 定性相分析繫統的應用/109 5.3.3人工檢索和計算機檢索的比較/115 5.4復相分析和無卡相分析/1165 5.4.1復相分析/118 5.4.2無卡相分析/120 5.5物相定性分析中應注意的問題/122 參考文獻/124 第6章物相定量分析125 6.1多晶物相定量分析原理/125 6.1.1單相試樣衍射強度的表達式/126 6.1.2多重性因數/126 6.1.3結構因數/126 6.1.4溫度因數/127 6.1.5吸收因數/128 6.1.6衍射體積/128 6.1.7多相試樣的衍射強度/129 6.2采用標樣的定量相分析方法/130 6.2.1內標法/131 6.2.2增量法/134 6.2.3外標法/142 6.2.4基體效應消除法(K值法)/147 6.2.5標樣方法的實驗比較/151 6.3無標樣的定量相分析方法/152 6.3.1直接比較法/152 6.3.2絕熱法/154 6.3.3Zevin的無標樣法及其改進/156 6.3.4無標樣法的實驗比較/164 6.4定量分析的近期新進展和注意的問題/165 6.4.1定量分析的近期新進展/165 6.4.2Rietveld定量分析/167 6.4.3X射線物相定量分析中應注意的問題/169 參考文獻/170 第7章指標化和晶胞參數的測定171 7.1多晶衍射圖的指標化/171 7.1.1 已知準確晶胞參數時衍射線的指標化/171 7.1.2已知粗略晶胞參數時衍射線的指標化/171 7.1.3指標立方晶繫衍射圖的sin2θ比值法/172 7.1.4指標四方和六方晶繫衍射圖的圖解法/172 7.1.5指標未知晶繫衍射圖的嘗試法/175 7.1.6指標未知晶繫衍射圖的伊籐法(Ito)/175 7.2晶胞參數的準確測定/177 7.2.1德拜-謝樂照相法/179 7.2.2聚焦相機法/183 7.2.3衍射儀法/184 參考文獻/184 第8章納米材料微結構的X射線表征185 8.1譜線線形的卷積關繫/185 8.2微晶寬化與微應力寬化效應/186 8.2.1微晶寬化效應——謝樂公式/186 8.2.2微應力引起的寬化/188 8.3分離微晶和微應力寬化效應的各種方法/188 8.3.1Fourier級數法/188 8.3.2方差分解法/190 8.3.3近似函數法/191 8.3.4前述幾種方法的比較/191 8.4堆垛層錯引起的寬化效應/192 8.4.1密堆六方的堆垛層錯效應/192 8.4.2面心立方的堆垛層錯效應/192 8.4.3體心立方的堆垛層錯效應/193 8.4.4分離密堆六方ZnO中微晶-層錯寬化效應的Langford方法/194 8.5分離多重寬化效應的最小二乘法/195 8.5.1分離微晶-微應力寬化效應的最小二乘法/195 8.5.2分離微晶-層錯寬化效應的最小二乘法/196 8.5.3分離微應力-層錯二重寬化效應的最小二乘法/197 8.5.4分離微晶-微應力-層錯三重寬化效應的最小二乘法/198 8.5.5計算程序的結構/200 8.6應用舉例/201 8.6.1MmB5儲氫合金微結構的研究/202 8.6.2納米NiO的制備和微結構的表征/204 8.6.3納米Ni粉的制備和微結構的表征/205 8.6.4V-Ti合金在儲放氫過程中的微結構研究/207 8.6.5β-Ni(OH)2中微結構的研究/209 8.6.6納米ZnO微結構的研究/218 8.6.7Mg-Al合金的微結構研究/220 8.6.8石墨堆垛無序度的研究/222 8.6.9應用小結/227 參考文獻/228 第9章Rietveld結構精修原理與方法230 9.1Rietveld方法的發展史/231 9.2Rietveld方法的基本原理/232 9.2.1Rietveld方法的算法/233 9.2.2Rietveid方法結果的評價/234 9.3Rietveld方法中衍射峰的線形分析/235 9.3.1峰形函數分析方法/235 9.3.2峰形函數擬合/235 9.3.3微結構分析/237 9.4Rietveld分析中的校正/238 9.4.1擇優取向校正/238 9.4.2微吸收校正/239 9.4.3背底修正/240 9.5Rietveld方法的晶體結構分析/240 9.6Rietveld方法的相定量分析/241 9.7Rietveld方法的指標化和相分析/242 9.8Rietveld分析的實驗方案/243 9.8.1儀器的選擇/243 9.8.2波長和衍射數據範圍選擇/243 9.8.3步進方式選擇/244 9.9Rietveld精修的步驟和策略/245 參考文獻/247 0章粒度分布和分形結構的小角散射測定250 10.1小角X射線散射理論簡介/250 10.1.1一個電子的散射/250 10.1.2兩個電子的散射/251 10.1.3多電子繫統的散射/252 10.1.4多粒子繫統的小角X射線散射/253 10.2小角X射線散射實驗裝置/255 10.2.1三狹縫繫統/255 10.2.2針狀狹縫繫統/256 10.2.3錐形狹縫繫統/256 10.2.4Kratky狹縫繫統/257 10.2.5多重晶反射繫統/257 10.2.6同步輻射SAXS裝置/257 10.2.7小角X射線散射的實驗配置/258 10.3小角散射的實驗技術和方法/258 10.3.1試樣制備技術/258 10.3.2光路的校準/259 10.3.3散射數據的前處理/259 10.4異常小角X射線散射和二維小角X射線散射/260 10.4.1異常小角X射線散射/260 10.4.2二維小角X射線散射/262 10.5納米材料顆粒大小及其分布的測定/263 10.5.1一些常用的計算方法/263 10.5.2小角散射與其他方法的比較/264 10.6納米材料分形結構研究/265 10.6.1分形/265 10.6.2來自質量和表面尺冪度體的小角散射/267 10.6.3散射強度與尺冪度體維度的關繫/268 參考文獻/269 1章化學組分和原子價態的X射線分析270 11.1X射線發射譜/270 11.1.1激發X射線/270 11.1.2X射線發射譜化學分析/272 11.1.3X射線發射譜的精細結構/273 11.2X射線吸收譜/274 11.2.1吸收限/274 11.2.2用X射線吸收譜的化學定性定量分析/275 11.3俄歇電子能譜/275 11.3.1俄歇電子的能量和強度/276 11.3.2用俄歇電素定性定量分析/277 11.3.3用俄歇譜的化學價態研究/278 11.4光電子能譜/278 11.4.1光電子譜的能量和強度/278 11.4.2X射線光電子能譜化學分析/280 11.4.3價態研究/280 11.4.4價態研究實例/282 11.5軟X射線磁圓二色譜/283 11.5.1X射線磁圓二色的基本原理/283 11.5.2軟X射線磁圓二色譜實例/284 參考文獻/286 2章納米薄膜和一維超晶格材料的X射線分析287 12.1概述/287 12.2薄膜分析中常用的X射線方法/288 12.2.1低角度X射線散射和衍射/288 12.2.2掠入射X射線衍射/288 12.2.3粉末衍射儀和薄膜衍射儀/289 12.2.4雙晶衍射儀和多重晶衍射儀/289 12.3原子尺度薄膜的研究/290 12.4納米薄膜和多層膜的研究/291 12.4.1膜的厚度測定/291 12.4.2厚度漲落的研究/295 12.4.3薄膜組分測定/298 12.4.4薄膜的相分析和相變/299 12.4.5薄膜晶粒大小和嵌鑲塊大小的測定/300 12.4.6單晶膜完整性的觀測/301 12.5薄膜材料中的應力測定/302 12.5.1單晶薄膜的應變和彎曲度的測定/302 12.5.2多晶膜的應力測定/304 12.5.3納米薄膜材料應力測定的特征/307 12.6一維超晶格材料的X射線分析/307 12.6.1非晶超點陣的研究/308 12.6.2多晶超點陣的研究/309 12.6.3單晶超點陣的研究/312 12.7超點陣界面粗糙度的X射線散射理論/318 12.7.1一般介紹/318 12.7.2來自不同粗糙界面的散射/322 12.8不完整性和應變的衍射空間或倒易空間圖研究/323 12.8.1衍射空間繪制/323 12.8.2倒易空間測繪/323 參考文獻/326 3章介孔材料的X射線表征327 13.1介孔材料的分類/327 13.2介孔材料的X射線表征/328 13.2.1X射線表征的特點和實驗要求/328 13.2.2孔結構參數的計算/329 13.3介孔氧化硅材料的X射線表征/329 13.3.1二維六方結構/329 13.3.2立方孔道結構/332 13.3.3三維六方-立方共生結構/334 13.4金屬氧化物介孔材料的X射線表征/336 13.4.1金屬氧化物介孔材料的結構特征/336 13.4.2氧化鈦介孔材料/336 13.4.3介孔氧化鐵的X射線表征/337 13.4.4介孔Co3O4和Cr2O3的X射線表征/339 13.4.5介孔NiO的X射線表征/339 13.4.6介孔MnO2的X射線表征/341 13.4.7介孔稀土氧化物的X射線表征/341 13.5介孔碳材料的X射線表征/342 13.6介孔聚合物和高分子材料的X射線表征/346 13.6.1以介孔氧化硅為模板制備的高分子介孔材料/346 13.6.2以Pluronic F127為模板制備的高分子介孔材料/347 13.7介孔材料的分形結構SAXS研究/349 參考文獻/351 本書是主要介紹利用X射線等激發樣品從而表征材料結構,特別是納米材料晶體結構相關信息的專著。考慮到納米材料的特殊性,本書分為三個部分:晶體學基礎、X射線衍射理論基礎、X射線實驗裝置和方法等四章為基礎部分;中間部分是X射線衍射分析方法和應用,包括物相定性和定量、晶體學參數測定、納米材料微結構的衍射線形分析、Rietveld結構精修和小角散射等;很後介紹了化學組成和原子價態、納米薄膜和介孔材料等的X射線分析。 本書可供從事X射線衍射與散射技術以及X射線譜等分析的專業人員參考,也可供從事納米材料相關的研究人員、工程技術人員以及高等院校相關專業的教師和學生閱讀。
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