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坐標測量技術 原書第2版 圖書
該商品所屬分類:圖書 -> 科技
【市場價】
696-1008
【優惠價】
435-630
【作者】 阿爾伯特·韋克曼 
【出版社】機械工業出版社 
【ISBN】9787111693758
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內容介紹



出版社:機械工業出版社
ISBN:9787111693758
商品編碼:10047416909635

品牌:文軒
出版時間:2022-03-01
代碼:128

作者:阿爾伯特·韋克曼(AlbertWeckenm

    
    
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作  者:[德]阿爾伯特·韋克曼(Albert Weckenmann) 等 著 張為民 譯
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定  價:128
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出 版 社:機械工業出版社
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出版日期:2022年03月01日
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頁  數:321
/
裝  幀:平裝
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ISBN:9787111693758
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目錄
●序自首臺計算機輔助坐標測量機出現以來,坐標測量技術的發展經歷了從單純的兩點測量到帶補償的多點測量的轉變,加工測量技術也因此發生了根本性的改變。坐標測量技術誕生於20世紀70年代,本書第1版出版於1999年,從那時起與加工技術相關的測量技術不僅在工件幾何尺寸和幾何形狀的測量方面,而且在儀器設備及其應用方面,特別是光學和計算機斷層掃描技術及傳感器技術方面獲得了極大的進展和變化。隨件的微型化,信息和通信技術也同時經歷了爆炸式的發展,這也促進了新測量方案的設備研發。與此同時,測量技術在應用廣度、幾何尺寸大小、測量速度、表面采樣密度和測量不確定度上也發生了很大的變化,在GPS(產品幾何技術規範)中,統一地定義和描述了工件多變的形狀、尺寸和表面特征。總體來說,如今的坐標測量機除了基本原理以外都和第一代接近不同了。故而,需要更進一步地審視這些新技術,把這些變化和新的解決方案用實踐的眼光去評估,去仔細分析並了解它們新的應用範圍。本書基本保留了第1版的主題,並補充了坐標測量技術中一些重要的傳感器技術(如激光跟蹤儀、計算機斷層掃描和多傳感器測量技術),此外還增加了適合於坐標測量技術培訓的內容。由於測量繫統復雜性的增加、測量任務範圍的擴大、對物理特性間相互影響深入的了解、新增的一些檢測原理和對測量精度要求的提高以及應用可能性的擴展等原因,本書的相關內容交由在坐標測量技術領域內的知名專家來編寫。有經驗的測量工程師會在本書中發現很多有名專家的名字,這保證了本書內容的正確性、專業性和權威性。本書可應用於:1.需要更多地了解坐標測量技術和需要更好地了解測量結果實現過程的測量工作從業者。2.生產企業非測量領域但需要根據測量結果做出決策的專業人員。3.需要確定測量的尺寸、公差,並且需要考慮其相互作用以及驗證細節問題的設計工程師。4.想學習坐標測量技術的大學生或其他感興趣者。本書可作為坐標測量技術綜合性介紹的入門專業書和參考書。感謝對本書出版做出貢獻的所有作者。我在審閱過程中考慮了所有作者提出的重要意見,並且采納了其中絕大多數意見。由於本書由不同的作者共同完成,雖然審閱統稿時已非常仔細,但仍存在不一致的地方,讀者們可以把它們看作是可接受的技術多樣性表達。特別感謝我的同事Laura Shaw和Philipp Krmer,感謝他們在校訂稿件細節和處理書稿時付出的努力。衷心地感謝提供給我們信息、圖片和草圖的企業、組織和個人。封面是Ingrid Gaus女士根據出版社的總體設想而設計的,感謝她,她的努力提高了本書的吸引力。最後感謝Carl Hanser出版社,感謝Volker Herzberg先生在本書多次延遲交稿時所保持的耐心和友好的合作。
內容簡介
隨著我國制造業的轉型升級和智能制造的發展,測量技術的作用越來越重要。本書由德國埃爾蘭根-紐倫堡大學阿爾伯特·韋克曼(Albert Weckenmann)教授等專家著寫而成,書中詳細介紹了坐標測量技術,包括測量任務,測量原則和設備技術,用於坐標測量的傳感器,優選儀器儀表工程學基礎,由設計圖經檢驗計劃再到檢測計劃,由檢測計劃經編程、執行和評定直至測量結果表示,特殊的測量任務,測量不確定度和測量值的可回溯性,測量經濟性,以及測量培訓等內容。本書既可作為坐標測量技術的綜合性入門專業書和參考書,也可作為坐標測量等相關專業的教材和參考書。
作者簡介
[德]阿爾伯特·韋克曼(Albert Weckenmann) 等 著 張為民 譯
阿爾伯特·韋克曼,教授,博士,工程師。埃爾蘭根-紐倫堡大學質量管理和加工測量技術教席教授,在坐標測量技術領域擁有逾30年的坐標測量技術科研經歷。



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