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    該商品所屬分類:圖書 -> 大中專理科
    【市場價】
    353-512
    【優惠價】
    221-320
    【作者】 王文生 
    【出版社】機械工業出版社 
    【ISBN】9787111419747
    【折扣說明】一次購物滿999元台幣免運費+贈品
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    內容介紹



    出版社:機械工業出版社
    ISBN:9787111419747
    商品編碼:1107881471

    品牌:文軒
    出版時間:2013-07-01
    代碼:39

    作者:王文生

        
        
    "
    作  者:王文生,等
    /
    定  價:39.8
    /
    出 版 社:機械工業出版社
    /
    出版日期:2013年07月01日
    /
    頁  數:313
    /
    裝  幀:平裝
    /
    ISBN:9787111419747
    /
    目錄
    ●前言(Preface)
    ●第1章 干涉測試基礎(Chapter 1Foundation of Interference Testing)
    ●1. 1 干涉與干涉術(Interference and Interferometry)
    ●1. 2 基本關繫式(Basic Relations)
    ●1. 3 干涉條紋的特性(Characteristics of Interference Fringes)
    ●1. 4 不同頻率的單色平面波的干涉( Interference of Monochromatic Plane Wave with Different Frequency)
    ●1. 5 球面波的干涉(Interference of Spherical Wave)
    ●1. 6 光源的相干性[9~11](Coherence of Light Source)
    ●1. 7 對件的一般要求[12](General Requirements for Interferometer Elements)
    ●本章習題(Exercises)
    ●本章術語(Terminologies)
    ●參考文獻(References)
    ●第2章 單頻干涉術(Chapter 2Mono?frequency Interferometry)
    ●2. 1 干涉儀及其分類(Interferometer and Classification)
    ●2. 2 波前形狀的研究(Researching of Wavefront Shape)
    ●2. 3 米基準的測定\\[2~4\\](Measurement of Meter Benchmark)
    ●2. 4 長度測量(Measurement of Length)
    ●2. 5 位移測量(Displacement Measurement)
    ●2. 6 CCD?微機繫統在干涉測長中的應用\\[5,6\\](Application of CCD?computer System in InterferenceLength Measurement)
    ●2. 7 波面位相自動探測技術(Automatic Detection Technology of Wave Front Phase)
    ●部分目錄
    內容簡介
    王文生、苗華、陳宇、牟達、霍富榮編著的《現代光學測試技術》基於實際教學和科研的需求,按“十二五”規劃編寫。本書側重於把各種光學測試技術與CCD等現代探測器、EALCD空間光調制器和計算機技術相結合,故所討論的方法具有實時化、自動化和數字化特點。為了提高測試精度,本書中引入了數字圖像處理算法,並把各種算法,包括傅裡葉變換、小波變換、拉普拉斯、綜合識別函數等成功地應用於相關探測、全息測試、散斑測試等中,使光學、專業數學和計算機學相結合。本書中的許多測試實例是作者科研團隊和靠前外許多專家的科研成果,故本書將理論與測試實踐緊密結合,所討論的方法具有實用性和優選性。全書的章、節、目、圖和專業詞彙均用英語標出,且每章均給出英語專業詞彙列表,以利於雙語教學和文獻查閱。
    全書共分十章,內容包括:干涉測試基礎,單頻干涉術,雙頻干涉術,莫爾干涉術,全息術,全息干涉術,全信息測量技術,散斑干涉術,光學相等



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