●第0章 緒論
●章 X射線的性質
● 1.1 引言
● 1.2 X射線的本質
● 1.3 X射線的產生及X射線管
● 1.4 X射線譜
● 1.5 X射線與物質的相互作用
● 1.6 X射線的安全防護
● 習題
●第2章 X射線衍射方向
● 2.1 引言
● 2.2 晶體幾何學基礎
● 2.3 衍射的概念與布拉格方程
● 2.4 X射線衍射方向
● 2.5 X射線衍射方法
● 習題
●第3章 X射線衍射強度
● 3.1 引言
● 3.2 結構因子
● 3.3 多晶體的衍射強度
●部分目錄

周玉、武高輝編著的《材料分析測試技術--材料X射線衍射與電子顯微分析(第2版高等學校經典暢銷教材)》介紹了用X射線衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。內容包括：X射線衍射方向與強度、多晶體分析方法及X射線衍射儀、物相分析、宏觀應力測定、晶體的極射赤面投影、多晶體織構分析、透射電鏡結構與原理、復型技術、電子衍射、衍襯成像、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時，簡要介紹了離子探針、低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、掃描隧道與原子力顯微鏡及X射線光電子能譜儀等顯微分析方法，書末配有實驗指導和附錄。書中的實例分析注重引入了材料微觀組織結構分析方面的新成果。
本書可作為材料科學與工程學科的本科生教材或教學參考書，也可供從事材料研究及分析檢測方面工作的技術人員參考。