●前言
●第1章RFID防踫撞及動態測試關鍵技術研究概述1
●1.1RFID技術的起源與發展1
●1.2物聯網與RFID技術4
●1.2.1物聯網的基本框架4
●1.2.2 RFID繫統的基本結構5
●1.2.3 RF1D繫統的基本原理8
●1.2.4物聯網與RFID繫統的應用10
●1.3 RFID繫統防踫撞技術.14
●1.3.1信道與信道容量15
●1.3.2軟件防踫撞20
●1.3.3物理防踫撞26
●1.4 RFID繫統動態測試技術28
●1.4.1 RFID繫統測試的主要內容.28
●1.4.2 RFID測試技術HI內外研究進展29
●1.4.3 RFID繫統動態測試的流程.32
●1.4.4 RFID繫統動態測試方法與實現.34
●1.5 本章小結.40
●第2章低信噪比環境下超高頻RFID繫統建模與抗干擾研究41
●2.1 RFID繫統典型信號參數建模和通信繫統仿真研究.41
●部分目錄
由於物聯網應用環境中的溫度變化、噪聲、物理介質等對RFID繫統識讀性能的影響以及所引起的RFID讀寫設備故障,很大程度上影響到RFID技術的大規模應用。因此,面向實際應用環境的RFID測試技術成為RFID產品研發和應用實施過程中的重要技術保障。本書創新性的提出一種將安裝多個高精度光電傳感器的物流傳輸線(硬件)與防踫撞檢測算法(軟件)相結合的RFID繫統動態檢測方法,提出了模擬典型物聯網環境下基於光電傳感技術的RFID動態性能檢測平臺研制方案,通過給繫統施加背景噪聲、電路干擾、電磁干擾等信號,檢測RFID繫統在多種復雜外部干擾下的各種動態性能,並結合理論模型完成對RFID繫統通信可靠性的全面評估。其關鍵技術在於利用射頻、信號處理、控制、軟件等技術手段產生仿真信號和各種干擾源,用信號模擬的方式來構造測試環境,通過對典型信號、干擾信號分別建模,利用軟件和硬件控制,產生典型的測試信號,完成對物聯網等