●第1章 緒論
1.1 確信可靠性理論簡介
1.1.1 可靠性科學原理
1.1.2 確信可靠性度量框架
1.2 可靠性與風險
1.3 常用電子產品可靠性設計與分析方法
1.3.1 電子產品可靠性設計方法
1.3.2 電子產品可靠性分析方法
1.4 基於確信可靠性理論的電子產品可靠性分析方法
1.5 風險分析方法
1.5.1 概率風險評估方法
1.5.2 動態概率風險評估
1.6 本書內容簡介
參考文獻
第2章 電子產品電性能確信可靠性分析
2.1 基本概念
2.1.1 功能與性能
2.1.2 關鍵性能參數
2.1.3 性能方程
2.2 電性能確信可靠性分析
2.2.1 分析流程
2.2.2 關鍵電性能參數及閾值
2.2.3 電性能裕量方程
2.2.4 不確定性分析與量化
2.2.5 確信可靠性計算
2.3 案例分析
2.3.1 某電路紋波電流的確信可靠性建模與分析
2.3.2 某型連接器接觸電阻的確信可靠性建模與分析
2.4 本章小結
參考文獻
第3章 電子產品熱環境確信可靠性分析
3.1 基本概念
3.1.1 傳熱學基礎
3.1.2 熱設計
3.1.3 熱分析方法
3.1.4 熱-機械應力分析方法
3.2 熱環境確信可靠性分析
3.2.1 分析流程
3.2.2 關鍵熱性能參數及闖值
3.2.3 熱性能裕量方程
3.2.4 繫統性能裕量的邏輯框圖模型
3.2.5 熱性能退化方程
3.2.6 不確定性分析與量化
3.2.7 確信可靠性計算
3.3 案例分析
3.3.1 定常溫度場下單板計算機溫度的確信可靠性評估
3.3.2 非定常溫度場下單板計算機溫度的確信可靠性評估
3.3.3 單板計算機熱應力性能的確信可靠性評估
3.4 本章小結
參考文獻
第4章 電子產品振動環境確信可靠性分析
4.1 基本概念
4.1.1 振動力學基礎
4.1.2 振動性能參數
4.2 振動環境確信可靠性分析
4.2.1 分析流程
4.2.2 振動性能裕量方程
4.2.3 振動性能退化方程
4.2.4 不確定性分析與量化
4.2.5 確信可靠度計算
4.3 案例分析
4.3.1 分析對像簡介
4.3.2 振動應力確信可靠性分析
4.3.3 固有頻率確信可靠性分析
4.3.4 裂紋長度確信可靠性分析
4.4 本章小結
參考文獻
第5章 電子產品電磁環境確信可靠性分析
5.1 基本概念
5.1.1 電磁場基本定律
5.1.2 電磁環境
5.1.3 電磁干擾
5.1.4 電磁兼容基本術語
5.2 電磁環境確信可靠性分析
5.2.1 分析流程
5.2.2 電磁性能方程
5.2.3 電磁性能裕量方程
5.2.4 電磁性能退化方程
5.2.5 不確定性分析與量化
5.2.6 確信可靠性計算
5.3 案例分析
5.3.1 分析對像簡介
5.3.2 裕量方程組的建立
5.3.3 確定性輸入信號的電磁場仿真
5.3.4 輸入信號不確定性時的確信可靠度計算
5.4 本章小結
參考文獻
第6章 故障行為建模
6.1 概念與內涵
6.1.1 故障機理與性能退化
6.1.2 故障行為的概念
6.1.3 故障行為模型
6.1.4 基於故障樹的建模方法
6.2 故障機理及相關關繫
6.2.1 電子產品的主要故障機理
6.2.2 故障機理相關
6.2.3 典型的故障機理相關關繫
6.2.4 故障機理相關關繫實例
6.3 故障機理樹建模方法
6.3.1 故障機理樹的定義
6.3.2 故障機理相關關繫的故障機理樹表達
6.3.3 故障機理樹計算數據來源
6.3.4 故障機理樹建模案例
6.4 本章小結
參考文獻
第7章 基於故障行為的概率風險評估方法
7.1 混合因果邏輯方法
7.2 故障行為與概率風險評估
7.2.1 方法流程
7.2.2 求解過程
7.3 BDD模型和求解算法
7.3.1 FT轉化為BDD的方法
7.3.2 FMT轉化為BDD的方法
7.3.3 ESD轉化為BDD的方法
7.3.4 決策邏輯的蒙特卡羅仿真算法
7.4 案例分析
7.4.1 產品分析和ESD模型
7.4.2 故障樹和故障機理樹建模
7.4.3 故障模型轉化為BDD模型
7.4.4 仿真結果分析
7.5 本章小結
參考文獻
第8章 基於故障場景推理的風險評估方法
8.1 風險場景與故障場景
8.2 故障場景樹
8.2.1 多狀態故障場景樹
8.2.2 多階段任務繫統故障場景樹構建方法
8.3 自動推理引擎
8.3.1 規則庫的建立
8.3.2 事實庫的建立
8.3.3 推理引擎的建立
8.4 場景自動推理算法
8.4.1 機理層遍歷推理
8.4.2 階段層遍歷推理
8.4.3 部件層優化推理
8.4.4 故障場景的智能推理
8.5 案例分析
8.5.1 繫統分析
8.5.2 故障機理層場景推理
8.5.3 部件層場景推理
8.6 本章小結
參考文獻

確信可靠性理論給出的可靠性科學原理是裕量可靠、退化永恆和不確定性；建立的可靠性測度是概率測度、不確定測度和機會測度。本書內容基於確信可靠性理論，采用概率測度，從建立裕量方程、退化方程和不確定性量化方程3個方面入手，提供進行電子產品可靠性分析與風險評估的新方法。
本書第1章是認識和理解基於確信可靠性理論和故障行為理論進行電子產品可靠性分析和風險分析方法的關鍵，給出確信可靠性的理論框架、可靠性與風險的概念和關繫，總結電子產品中常用的設計、分析方法以及概率風險分析方法，並指出這些方法存在的問題。
本書第2章至第5章從電子產品的“可靠行為”入手，采用確信可靠性理論中基於性能裕量的可靠性度量公式，逐一開展裕量建模與可靠性分析。第2章介紹電性能裕量建模與可靠性分析方法，這是電子產品可靠性分析最基礎的一步，即分析器件性能參數的不確定性對電子產品輸出性能參數的影響。第3章至等