第1章 X射線光電子能譜分析技術

1.1 引言

1.2 儀器構造與樣品制備

1.2.1 X射線源

1.2.2 超高真空繫統（IJHV）

1.2.3 分析器與數據繫統

1.2.4 其他附件

1.2.5 靈敏度和檢測限

1.2.6 清潔表面制備

1.3 基本原理

1.3.1 XPS的物理基礎

1.3.2 XPS譜的結合能參照基準

1.3.3 結合能化學位移

1.4 XPS在化學上的應用及實例解析

1.4.1 定性分析

1.4.2 定量分析

1.5 新技術

1.5.1 單色化XPS（Mono XPS）和小面積XPS（SAXPS）

1.5.2 SAXPS深度剖析

1.5.3 成像XPS（iXPS）

1.5.4 XPS線掃描分析

本章小結

參考文獻

第2章 X射線粉末衍射分析技術

2.1 引言

2.2 X射線粉末衍射儀

2.2.1 基本構造

2.2.2 工作原理

2.2.3 試樣制備

2.2.4 應用及圖例解析

本章小結

參考文獻

第3章 俄歇電子能譜分析技術

3.1 引言

3.2 俄歇表面分析技術的基本理論

3.2.1 俄歇過程和俄歇電子

3.2.2 俄歇電子能量與特征譜線的關繫

3.2.3 俄歇電子的強度

3.2.4 化學效應

3.3 儀器結構

3.3.1 樣品室

3.3.2 電子槍

3.3.3 氬離子槍

3.3.4 電子能量分析器

3.3.5 檢測器

3.3.6 真空繫統

3.3.7 俄歇電子能譜儀的分辨率和靈敏度

3.4 實驗技術

3.4.1 樣品的制備技術

3.4.2 離子束濺射技術

3.4.3 樣品的荷電問題

3.4.4 俄歇電子能譜的采樣深度

3.5 俄歇電子能譜圖的分析技術

3.5.1素定性鋻定

3.5.2素的半定量分析

3.5.3素的化學價態分析

3.5.4 深度分析

3.5.5 微區分析

3.6 俄歇電子能譜的應用

3.6.1 表面檢查和污染分析

3.6.2 在金屬、半導體方面的應用

3.6.3 吸附和催化方面的應用

3.6.4 在薄膜、厚膜、多層膜方面的應用

3.6.5 俄歇電子能譜的功能擴展

本章小結

參考文獻

第4章 X射線吸收精細結構分析技術

4.1 引言

……

第5章 固體材料的質譜分析技術

第6章 電子顯微鏡分析技術

第7章 電子探針X射線顯微分析技術

第8章 核磁共振波譜分析技術