內容簡介
隨著電子技術的不斷發展，電子繫統測試面臨越來越大的挑戰：研究更精確的故障模型，在高層設計上檢查易測試性，在綜合過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹了測試的基本原理和很多必需的基礎知識，來面對這些挑戰。
本書涉及開發可靠電子產品的非常實用的設計和測試知識，講解設計驗證的主要手段，有助於測試的設計檢查；研究了如何將測試應用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。後，提供了針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理，並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括：
●解釋了測試在設計中的作用。
●詳細討論了掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片繫統的測試。
本書涉及開發可靠電子產品的非常實用的設計和測試知識，講解設計驗證的主要手段，有助於測試的設計檢查；研究了如何將測試應用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。後，提供了針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理，並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括：
●解釋了測試在設計中的作用。
●詳細討論了掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片繫統的測試。
