內容簡介
本書第1章簡要介紹了干涉測量技術及其發展。第2章概括介紹了干涉及合成孔徑成像原理。第3章分析了干涉儀響應,包括強度和可見度函數之間的傅裡葉變換關繫。第4章介紹了合成成像所需的大地坐標繫和參數。第5章介紹了以及干涉儀的合成孔徑天線陣列。第6~8章繫統介紹了接收機繫統設計和響應,包括構型變化對靈敏度的影響及數字相關器的量化效應。第9章討論了甚長基線干涉儀(VLBI)的特殊需求。第10章介紹了可見度函數與傅裡葉變換,並介紹了如何利用可見度函數導出射電圖像,對譜線觀測進行了討論。第11章討論了利用Clean反卷積算法、**熵法、自適應定標和多頻合成等非線性技術改善射電圖像。第12章介紹了天體測量學和大地測量學中的精確觀測。第13章討論了導致射電干涉儀整體性能下降的因素。第14章介紹了VanCittertZernike定理的驗證、空間相關、散射以及相干傳播。第15章討論了射電干擾對射電干涉儀的影響。後一章介紹了一些相關的技術,包括強度干涉測量法、月掩星觀測和光學干涉測量等。