內容簡介
在半導體集成電路的設計與制造過程中，測試的重要性越來越突出，有關數字繫統測試方面的書籍也不斷出現，本書是這些書籍中內容十分全面豐富的一本。本書繫統地介紹了數字繫統測試相關方面的知識，包括基礎內容方面的自動測試向量生成、可測性設計、內建自測試等，高級內容方面包括IDDQ測試、功能測試、延遲故障測試、CMOS測試、存儲器測試以及故障診斷等，並論述了*的測試技術，包括各種故障模型的測試生成、集成電路不同層次的測試技術以及繫統芯片的測試綜合等，其內容涵蓋了當前數字繫統測試與可測試性設計方面的基礎知識與研究現狀等。
本書可作為高等學校計算機、微電子、電子工程等專業的高年級本科生和研究生的教材與參考書，也可供從事相關領域工作，特別是集成電路設計與測試的科研與工程技術人員參考。
本書可作為高等學校計算機、微電子、電子工程等專業的高年級本科生和研究生的教材與參考書，也可供從事相關領域工作，特別是集成電路設計與測試的科研與工程技術人員參考。
