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X射線衍射技術及設備丘利
該商品所屬分類：工業技術 -> 原子能技術
【市場價】	497-720元
【優惠價】	311-450元
【作者】	丘利，胡玉和　編
【所屬類別】	圖書工業技術原子能技術
【出版社】	冶金工業出版社
【ISBN】	9787502420031
【折扣說明】	一次購物滿999元台幣免運費+贈品一次購物滿2000元台幣95折+免運費+贈品一次購物滿3000元台幣92折+免運費+贈品一次購物滿4000元台幣88折+免運費+贈品
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內容介紹

開本：16開

紙張：膠版紙

包裝：平裝

是否套裝：否

國際標準書號ISBN：9787502420031

作者：丘利，胡玉和編

出版社：冶金工業出版社

出版時間：1998年02月

內容簡介

《X射線衍射技術及設備》介紹了晶體學和X射線衍射基本原理，現代衍射儀設備及實驗技術，國內外廠家新近生產的衍射儀產品，以及常用X射線衍射方法等。編寫時力求介紹國內外新的技術、方法、設備及其發展，也著眼於X射線衍射技術的實際應用與推廣、普及。

《X射線衍射技術及設備》除適合於X射線衍射技術應用工作者使用外，還適合於金屬物理、金屬學、材料、冶金、機械、地質、礦物、陶瓷、建材、化工、汽車、紡織、鐵路、硅酸鹽、環保、藥物、耐火材料、高分子材料、考古、電子陶瓷等專業有關工程、科技人員和大專院校有關專業師生參考。

1 X射線衍射基本原理
1.1 衍射計算中常用的晶體學表示方法
1.1.1 晶體、晶軸及晶面指數
1.1.2 倒易矢量及倒易點陣
1.1.3 反射球
1.1.4 晶繫
1.1.5 晶體的對稱性
1.1.6 點群
1.1.7 布拉維點陣
1.1.8 空間群
1.1.9 晶面間距的計算
1.1.10 晶帶
1.2 原子對X射線的散射
1.2.1 單個自由電子對X射線的散射1 X射線衍射基本原理

1.1 衍射計算中常用的晶體學表示方法

1.1.1 晶體、晶軸及晶面指數

1.1.2 倒易矢量及倒易點陣

1.1.3 反射球

1.1.4 晶繫

1.1.5 晶體的對稱性

1.1.6 點群

1.1.7 布拉維點陣

1.1.8 空間群

1.1.9 晶面間距的計算

1.1.10 晶帶

1.2 原子對X射線的散射

1.2.1 單個自由電子對X射線的散射

1.2.2 n個電子的散射及復數計算法

1.2.3 一個原子的X射線的散射

1.3 小晶體的散射

1.3.1 小晶體的散射強度

1.3.2 三個勞阨方程式

1.3.3 布拉格衍射的結構因子

1.3.4 熱振動對小晶體散射強度的影響

1.4 衍射線的積分強度

1.4.1 小單晶體衍射的積分強度

1.4.2 面積稍大的不完整晶體的積分強度

1.4.3 粉末樣品衍射的積分強度

參考文獻

2 現代X射線衍射儀繫統及實驗技術

2.1 概述

2.2 X射線源——種類及性能要求

2.2.1 X射線源的穩定性

2.2.2 X射線源的強度

2.2.3 光譜純淨度及單色性

2.2.4 X射線源的適用性

2.3 測角儀

2.3.1 測角儀結構及布拉格一布倫塔諾聚焦原理

2.3.2 狹縫繫統及幾何光學

2.3.3 測角儀的調整

2.4 探測器與記錄繫統

2.4.1 正比計數器

2.4.2 位置靈敏計數器

2.4.3 平面位敏計數器

2.4.4 閃爍計數器

2.4.5 Si(Li)半導體固態探測器

2.4.6 前置放大器和主放大器及脈衝成形器

2.4.7 單道脈衝分析器

2.4.8 多道脈衝分析器

2.4.9 定標器

2.4.10 速率計

2.4.11 探測器掃測方式及參數

2.4.12 X射線衍射能量色散測量

2.5 衍射儀的自動化

2.5.1 高壓和管流的控制

2.5.2 測角儀自動調整，試樣和狹縫的自動變換

2.5.3 自動測量、數據收集和處理

2.5.4 各種衍射應用程序和數據庫

2.5.5 故障診斷的現代化

2.6 衍射儀考核檢定及驗收

2.6.1 衍射儀綜合穩定度

2.6.2 高壓及管流穩定度

2.6.3 測角儀測角準確度、重復精度及儀器分辨率

2.6.4 探測器的相對半高寬

2.6.5 計算機硬件

2.6.6 計算機軟件和應用衍射軟件

2.6.7 各種衍射儀附件

2.6.8 其它有關裝置和附件

2.7 實驗測量技術

2.7.1 實驗參數的選擇及其對粉末衍射花樣的影響

2.7.2 強度、峰位、線形的測量

2.8 國內外一些廠家X射線衍射儀產品軟、硬件簡介

2.8.1 北京大學儀器廠產品BDX繫列X射線衍射儀產品簡介

2.8.2 德國布魯克(BRUKER)AXS公司X射線衍射儀產品簡介

2.8.3 荷蘭飛利浦(Philips)公司X射線衍射儀產品簡介

2.8.4 日本理學公司X射線衍射儀產品簡介

2.9 衍射儀的選購、實驗室注意事項及安全防護

2.9.1 衍射儀的選購

2.9.2 實驗室注意事項

2.9.3 X射線安全防護

參考文獻

3 定性相分析

3.1 引言

3.2 定性相分析的理論基礎

3.3 粉末衍射文件PDF

3.3.1 粉末衍射文件(PDF)卡片的新老格式

3.4 JCPDS粉末衍射文件數據的磁盤、磁帶及光盤

3.5 索引和檢索手冊

3.5.1 哈納瓦特數值索引

3.5.2 芬克數值索引

3.5.3 字母索引

3.5.4 其他索引

3.6 定性相分析的一般步驟

3.6.1 制樣

3.6.2 測量d和I值

3.6.3 手工檢索未知相的PDF卡片

3.6.4 定性相分析的計算機自動檢索

參考文獻

4 定量相分析

4.1 引言

4.2 基本原理

4.3 外標法

4.3.1 各相為同素異構的多晶型物相組成的待測試樣

4.3.2 待測試樣中各相的質量吸收繫數不同

4.4 內標法

4.5 基體衝洗法(K值法)

4.5.1 原理

4.5.2 K值的轉換

4.5.3 K值法國家標準

4.6 絕熱法

4.6.1 原理

4.6.2 Kij值的求法

4.6.3 絕熱法的優缺點

4.7 直接比較法

4.7.1 原理

4.7.2 應用——殘餘奧氏體和鋼材表層氧化鐵體積分數的測定

4.7.3 Ri值的計算

4.8 無標法

4.8.1 原理

4.8.2 無標法的優缺點

4.9 國內定量相分析方法研究成果簡介

4.9.1 聯立方程法

4.9.2 普適無標法

4.9.3.回歸求解法

4.9.4 化計算法

參考文獻

5 線形分析方法

5.1 線形寬化分析的積分寬度法

5.2 Kα1及Kα2雙重線的分離

5.3 線形近似函數的選擇

5.4 從B。值求物理寬度β值

5.5 從β值進行亞晶細化寬度m及點陣畸變寬度n的分離

5.5.1 亞晶細化與線形寬化效應的關繫——謝樂公式

5.5.2 點陣畸變與其寬化效應的關繫

5.5.3 β與m及n的關繫式

5.5.4 亞晶細化與點陣畸變寬化效應的圖解分離法

5.5.5 伏格脫函數法

5.6 積分寬度法中的測算誤差問題

5.6.1 譜線寬度測量對於物理寬度β的影響

5.6.2 M1及N1分離中的誤差

5.6.3 實驗條件的討論

5.7 線形寬化分析的傅氏級數法

5.7.1 實測線形的傅氏級數展開法

5.7.2 粉末樣品的衍射本領表達式

5.7.3 形變金屬衍射譜線寬化傅氏級數分析法

5.8 傅氏級數法中亞晶細化與點陣畸變寬化的分離

5.8.1 傅氏繫數的分離

5.8.2 Asn繫數的詮釋

5.8.3 “彎鉤”效應問題

5.9 方差分析法

5.9.1 譜線方差的測定

5.9.2 亞晶細化引起的方差

5.9.3 點陣畸變引起的方差

……

6 曾錯率及位錯分布的測定

7 結構的測定

8 晶粒取向分布函數分析方法

9 宏觀應力的測定

10 晶體點陣常數的精確測定

11 晶體定向

12 織構測定技術的應用舉例

參考文獻

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