本書是主要介紹利用X射線等激發樣品從而表征材料結構,特別是納米材料晶體結構相關信息的專著。考慮到納米材料的特殊性,本書分為三個部分:晶體學基礎、X射線衍射理論基礎、X射線實驗裝置和方法等四章為基礎部分;中間部分是X射線衍射分析方法和應用,包括物相定性和定量、晶體學參數測定、納米材料微結構的衍射線形分析、Rietveld結構精修和小角散射等;*後介紹了化學組成和原子價態、納米薄膜和介孔材料等的X射線分析。
本書可供從事X射線衍射與散射技術以及X射線譜等分析的專業人員參考,也可供從事納米材料相關的研究人員、工程技術人員以及高等院校相關專業的教師和學生閱讀。