第1章  氣體動力學

  1.1  概述

    1.1.1  波義耳定律

    1.1.2  查爾斯定律（1787年）或蓋伊-盧薩克定律（1802年）

    1.1.3  道爾頓定律（1801年）

    1.1.4  阿伏伽德羅定律（1811年）

    1.1.5  阿伏伽德羅常數

    1.1.6  勞施密特數

  1.2  數學關繫式

  1.3  問題及解答

  參考文獻

第2章  氣體的粘滯流導和分子流導

  2.1  氣體流導

  2.2  粘滯流導

  2.3  分子流導

  2.4  在過渡範圍內的流導

  2.5  綜合流導公式

  2.6  小理論漏率

  2.7  討論

  2.8  問題和解答

  參考文獻

第3章  氣體流動

  3.1  氣體流動的一般特點

  3.2  測量漏率、標準漏率和真實漏率

  3.3  不同氣體的漏率

  3.4  分壓隨時間的變化

  3.5  氣體從密封封裝內向外的粘滯流動

  3.6  不同氣體的粘滯流動速率

  3.7  問題和解答

  參考文獻

第4章  氣體流入密封封裝

  4.1  分子流

  4.2  粘滯流流入和流出密封封裝

  4.3  氣體流動在雙向同時發生

  4.4  問題及解答

第5章  密封封裝內的水汽

  5.1  水汽與腐蝕和電路失效的關繫

  5.2  水汽從外部環境中漏入密封封裝

  5.3  封裝內釋放的水汽

  5.4  由於封裝內化學反應產生的水汽

  5.5  問題和解答

  參考文獻

第6章  理解MIL-STD-883方法1014氦細檢漏試驗

  6.1  試驗目的

  6.2  試驗基礎知識

  6.3  試驗的固定方法

  6.4  試驗的靈活方法

  6.5  固定方法與靈活方法的比較

  6.6  粘滯流的影響

  6.7  測量漏率過於寬松

  6.8  封裝時預充氦氣

  6.9  預充後加壓

  6.10  問題及解答

  參考文獻

第7章  用氦質譜檢漏儀進行細檢漏試驗

  7.1  工作原理

  7.2  定義

  7.3  使用標準漏孔校準

  7.4  測量誤差（不包括背景誤差）

  7.5  背景誤差

  7.6  封裝外表面的氦氣引起的誤差

  7.7  小可檢測漏率（MDL）

  7.8  在標準漏孔間建立關聯性

  7.9  封裝的漏道定位

  7.10  問題和解答

第8章  粗檢漏

  8.1  概述

  8.2  將液體加壓進入封裝

  8.3  氟碳化合物蒸氣逸出封裝

  8.4  氣泡試驗

  8.5  氣體探測試驗

  8.6  增重試驗

  8.7  光學檢漏試驗

  8.8  染料滲透試驗

  8.9  殘餘氣體分析中的氟碳化合物

  8.10  粗漏試驗方法的定量比較

  8.11  問題和解答

  參考文獻

第9章  氣體對固體的滲透

  9.1  滲透過程描述

  9.2  溫度對滲透的影響

  9.3  把滲透率作為漏率對待

  9.4  水汽進入塑料封裝

  9.5  問題和解答

  參考文獻

第10章  殘餘氣體分析（RGA）

  10.1  試驗說明

  10.2  試驗目的

  10.3  根據RGA數據計算漏率

  10.4  RGA數據的分析

  10.5  運用RGA技術對小封裝進行質量鋻定

  10.6  問題及解答

  參考文獻

附錄A  符號及計量單位轉換

  A.1  符號

  A.2  單位符號及中文名稱

  A.3  計量單位轉換

    A.3.1  壓力（或真空）單位轉換

    A.3.2  漏率單位轉換

附錄B  名詞術語中英文對照