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  • 掃描電鏡和能譜儀的原理與實用分析技術
    該商品所屬分類:工業技術 -> 電子通信
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    【作者】 施明哲 編著 
    【所屬類別】 圖書  工業技術  電子通信  無線電、電信測量技術及儀器 
    【出版社】電子工業出版社 
    【ISBN】9787121272455
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    內容介紹



    開本:16開
    紙張:輕型紙
    包裝:平裝

    是否套裝:否
    國際標準書號ISBN:9787121272455
    作者:施明哲編著

    出版社:電子工業出版社
    出版時間:2015年11月 

        
        
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    編輯推薦
    本書不但介紹了掃描電鏡和能譜儀的結構、原理,以及在質量檢測、工藝監控和失效分析中的實際應用技術,還介紹了對樣品的制備,設備的維護、保養的一些方法。而低真空、環掃電鏡和SDD新型能譜檢測器、平行光波譜儀等新技術更是相關專業人員急需的。 
    內容簡介
    本書是介紹掃描電鏡和X射線能譜儀的原理和應用的專業書籍,全書共有兩篇。 **篇主要介紹了掃描電鏡的基本原理,包括掃描電鏡的國內外發展歷程、電鏡的基本原理和結構、實際應用中常見的一些成像技術和具體應用、樣品的處理、電鏡日常的維護及保養,還介紹了電鏡安裝場地和環境的基本要求及相關參數。 第二篇主要介紹能譜儀的基本原理、結構和實際的應用技術,包括Si(Li)與SDD兩種不同的檢測器。*後還簡單地介紹了傳統的羅蘭圓和新型的平行光波譜儀的工作原理及其各自的特點。
    作者簡介
    施明哲,工業和信息化部電子第五研究所高級工程師,廣東省電真空學會會員;廣東省電子顯微學會會員;中國電子顯微鏡學會會員。長期從器件可靠性的研究分析工作,器件的可靠性物理評價及失效分析等方面取得一定的研究成果,先後獲所級獎勵10幾項;獲FEI、Hitachi、 EDX和OXFORD等公司的全國性用戶會的獎勵約15項;中國電子顯微鏡學會的獎勵1項;省部級科技獎勵3項,發表學術論文約20篇。先後為省內外的同行們舉辦並主講過14期的掃描電鏡和能譜儀的原理及應用的培訓課程。
    目錄
    上篇 掃描電鏡的原理與實用分析技術

    第1章 光學顯微鏡和電子顯微鏡的發展回顧及其成像方式的比較(2)
    1.1 光學顯微鏡的發展簡史及幾個基本概念(2)
    1.1.1 光學顯微鏡的發展簡史(3)
    1.1.2 光學透鏡的特性(5)
    1.1.3 可見光的衍射(6)
    1.2 電子顯微鏡綜述(8)
    1.3 國外研制和發展電子顯微鏡的相關進程和成就(11)
    1.4 我國發展、研制和生產電鏡的概況(18)
    1.5 3種顯微鏡成像方式的比較(20)
    1.5.1 當前的幾種常見的掃描電鏡(22)
    1.5.2 當前幾種小型臺式電鏡(23)
    1.6 電子的基本性質及其與物質的相互作用(24)上篇 掃描電鏡的原理與實用分析技術



    第1章 光學顯微鏡和電子顯微鏡的發展回顧及其成像方式的比較(2)

    1.1 光學顯微鏡的發展簡史及幾個基本概念(2)

    1.1.1 光學顯微鏡的發展簡史(3)

    1.1.2 光學透鏡的特性(5)

    1.1.3 可見光的衍射(6)

    1.2 電子顯微鏡綜述(8)

    1.3 國外研制和發展電子顯微鏡的相關進程和成就(11)

    1.4 我國發展、研制和生產電鏡的概況(18)

    1.5 3種顯微鏡成像方式的比較(20)

    1.5.1 當前的幾種常見的掃描電鏡(22)

    1.5.2 當前幾種小型臺式電鏡(23)

    1.6 電子的基本性質及其與物質的相互作用(24)

    1.6.1 電子的基本參數(24)

    1.6.2 電子束的波長(24)

    1.6.3 入射電子和試樣的相互作用及產生的信號電子(26)

    參考文獻(30)

    第2章 掃描電鏡的原理和結構(31)

    2.1 掃描電鏡的原理(31)

    2.1.1 鏡筒概述(31)

    2.1.2 供電繫統(31)

    2.2 電子槍的束斑和束流(34)

    2.3 掃描電鏡的放大倍率(35)

    2.4 掃描電鏡的電子束斑(36)

    2.5 鏡筒(36)

    2.6 電子槍陰極(37)

    2.6.1 鎢陰極(38)

    2.6.2 氧化釔銥(Y2O3-Ir)陰極(42)

    2.6.3 六硼化鑭陰極(43)

    2.6.4 場發射陰極電子槍(48)

    2.7 電磁透鏡(Electromagnetic Lens)(54)

    2.8 掃描偏轉線圈(Scanning Coil)(57)

    2.9 樣品倉的外形與內部(60)

    2.9.1 幾種樣品倉的典型外觀(61)

    2.9.2 樣品倉的內部(61)

    2.9.3 特殊超大樣品倉(64)

    2.9.4 幾種特殊的樣品臺(65)

    2.10 真空壓力單位和真空泵(68)

    2.10.1 電鏡的真空繫統(69)

    2.10.2 電鏡的真空壓力範圍(71)

    2.10.3 旋片式機械泵(71)

    2.10.4 無油干式機械泵(74)

    2.10.5 油擴散泵(77)

    2.10.6 渦輪分子泵(81)

    2.10.7 離子吸附泵(86)

    2.11 環境和低真空掃描電鏡(88)

    參考文獻(94)

    第3章 掃描電鏡的主要探測器及其成像(96)

    3.1 二次電子和背散射電子信號的收集和顯示(96)

    3.2 二次電子探測器(96)

    3.3 二次電子像的性質(97)

    3.4 傳統E-T型二次電子探測器的組成(99)

    3.5 光電倍增管(100)

    3.6 YAG材料的二次電子及背散射電子探測器(104)

    3.7 透鏡內(IN-LENS)二次電子探測器(105)

    3.8 環境掃描和低真空電鏡的二次電子探測器(108)

    3.8.1 氣體二次電子探測器(108)

    3.8.2 大視場探測器(110)

    3.8.3 改進型低真空E-T二次電子探測器(111)

    3.9 與圖像分辨力有關的幾個主要因素(112)

    3.10 電子束流與束斑直徑(113)

    3.11 圖像的信噪比和灰度(115)

    3.12 試樣上電流的進出關繫(119)

    3.13 吸收電子像(120)

    3.14 電鏡的圖像分辨力與像素(121)

    3.15 圖像的立體效應和入射電子束與試樣之間的角度關繫(122)

    3.15.1 圖像的立體效應(122)

    3.15.2 入射電子束與試樣之間的角度關繫(123)

    3.15.3 傾斜角與二次電子發射繫數和傾斜補償(124)

    3.15.4 邊緣效應(126)

    3.15.5 試樣的原子序數效應(127)

    3.16 二次電子的電壓襯度像(127)

    3.17 試樣表面形貌與圖像的反差(129)

    3.18 焦點深度(景深)(131)

    3.19 物鏡光欄的選擇(133)

    3.20 加速電壓效應(134)

    3.21 背散射電子的檢測方式和圖像(136)

    3.21.1 背散射電子的檢測方式(138)

    3.21.2 背散射電子信號的接收與組合(141)

    3.22 陰極熒光像(143)

    3.23 束感生電流像(146)

    3.23.1 EBIC在半導體器件失效分析中的應用(148)

    3.24 圖像處理功能(152)

    3.24.1 圖像的微分(152)

    3.24.2 積分電路(154)

    3.24.3 非線性放大(154)

    3.25 掃描透射探測器(156)

    3.26 電子束減速著陸方式(158)

    參考文獻(160)

    第4章 掃描電鏡的實際操作(162)

    4.1 電鏡的啟動(162)

    4.2 試樣的安裝、更換及停機(162)

    4.3 圖像的采集(165)

    4.4 電鏡圖像中的幾種常見像差(167)

    4.4.1 球差(167)

    4.4.2 慧差(168)

    4.4.3 像散和場曲(169)

    4.4.4 畸變(172)

    4.4.5 色差(173)

    4.5 圖像的調焦、消像散和動態聚焦(174)

    4.5.1 圖像的調焦和消像散(174)

    4.5.2 圖像的動態聚焦(177)

    4.6 屏幕的分割與雙放大功能(178)

    4.7 電鏡圖像的不正常現像(180)

    4.7.1 震動干擾(180)

    4.7.2 鏡筒的合軸(181)

    4.7.3 試樣的損傷(183)

    4.7.4 試樣的污染(184)

    4.7.5 試樣放電(187)

    4.8 提高圖像亮度的幾種措施(191)

    參考文獻(192)

    第5章 試樣的制備(193)

    5.1 粉體試樣(196)

    5.2 塊狀試樣(197)

    5.3 磁性材料(198)

    5.4 生物試樣(199)

    5.5 制樣儀器與工具(201)

    5.5.1 開封機、研磨拋光機等機型和參數簡介(201)

    5.5.2 濺射過程和離子濺射儀(202)

    5.5.3 真空蒸發源及其載體(207)

    5.5.4 薄膜厚度的測量(209)

    5.5.5 碳鍍膜儀(210)

    5.5.6 制作和粘貼試樣的主要工具和材料(211)

    第6章 應用圖例(213)

    6.1 印制電路板的失效分析和檢測(213)

    6.2 陶瓷電容端頭的硫化銀(216)

    6.3 微觀尺寸測量(217)

    6.4 半導體器件的失效分析(219)

    6.4.1 半導體器件的表面缺陷與燒毀(220)

    6.4.2 靜電擊穿(223)

    6.5 金屬斷口分析(225)

    6.6 繼電器觸點表面分析(227)

    6.7 錫晶須的生長(229)

    6.8 印制電路板中的黑鎳現像和鎳層腐蝕(231)

    6.9 金屬膜電阻的分析(233)

    6.10 陶瓷電容的容量漂移(234)

    6.11 電真空器件(237)

    6.12 VC與EBIC像在半導體器件失效分析中的應用(238)

    參考文獻(239)

    第7章 電鏡的維護與保養(240)

    7.1 襯管的拆卸與清潔(240)

    7.2 光欄的清潔(243)

    7.3 閃爍體的保養(246)

    7.4 顯示器的保養和維護(247)

    7.5 真空繫統的維護(249)

    7.5.1 機械泵的維護(250)

    7.5.2 油擴散泵的維護(250)

    7.5.3 渦輪分子泵的維護(250)

    7.5.4 離子泵的維護(251)

    7.5.5 真空測量計的維護(251)

    7.6 冷卻循環水機的維護(252)

    7.7 控制電鏡的計算機(252)

    第8章 電子顯微鏡的安裝環境和要求(254)

    8.1 安裝地點的選擇(254)

    8.2 空間(254)

    8.3 接地(255)

    8.4 照明(255)

    8.5 室內溫度、濕度和排氣(256)

    8.6 防震和防磁(256)

    8.7 供電電源(257)

    8.8 供水(257)

    8.9 環境噪聲(258)

    8.10 其他(258)

    參考文獻(259)

    第9章 展望將來的掃描電鏡(260)

    參考文獻(261)

    附錄A 壓力單位的換算表(262)

    附錄B 幾個真空技術的主要術語和含義(263)

    附錄C 與電鏡分析有關的部分標準(265)

    下篇 能譜儀的原理與實用分析技術



    第10章 X射線顯微分析儀的發展概況及X射線的定義和性質(270)

    10.1 國外X射線顯微分析儀的發展簡史(270)

    10.2 國內X射線微區分析儀器的研制簡況(274)

    10.3 X射線的定義及性質(275)

    10.4 X射線的度量單位(276)

    參考文獻(277)

    第11章 能譜儀(EDS)的工作原理(278)

    11.1 鋰漂移硅〔Si(Li)〕探測器(278)

    11.2 鋰漂移硅芯片的結構(283)

    11.3 吸收和處理過程(284)

    參考文獻(288)

    第12章 入射電子與物質的相互作用及X射線的產生(289)

    12.1 電子能級的躍遷和X射線的產生(289)

    12.2 熒光產額(292)

    12.3 連續輻射譜的產生(292)

    12.4 莫塞萊定律和X射線定性分析的依據(293)

    12.5 X射線的吸收(294)

    12.6 二次發射(熒光)(296)

    參考文獻(296)

    第13章 X射線的探測限和假峰(297)

    13.1 探測限(297)

    13.2 不同密封窗材料的探測範圍(298)

    13.3 空間幾何分辨力
    前言
    前言
    掃描電鏡與能譜儀和波譜儀的組合是*近四十多年來發展起來的一種高效、實用,又幾乎是非破壞性的表面顯微分析設備。它類似於專業的電子探針分析儀,在微觀形貌觀察方面又勝過專業的電子探針分析儀,它不僅能用作高分辨力的微觀形貌觀察,也能夠對試樣表面的微區進行化學組分分析。它能夠分析的微區面積大可達平方毫米的量級,小可到平方微米的量級,圖像的幾何分辨力可以達到或優於納米級。此外,由於操作者可以選擇電子束的分析區域,掃描電鏡與能譜儀和波譜儀的組合分析不僅可檢測試樣的表面和基材的化學組分,而且更適合於檢測試樣中的夾雜物、鍍層的表面和橫截面、小污染斑的形貌,以及微觀尺寸的測量等。


    前言

    掃描電鏡與能譜儀和波譜儀的組合是*近四十多年來發展起來的一種高效、實用,又幾乎是非破壞性的表面顯微分析設備。它類似於專業的電子探針分析儀,在微觀形貌觀察方面又勝過專業的電子探針分析儀,它不僅能用作高分辨力的微觀形貌觀察,也能夠對試樣表面的微區進行化學組分分析。它能夠分析的微區面積大可達平方毫米的量級,小可到平方微米的量級,圖像的幾何分辨力可以達到或優於納米級。此外,由於操作者可以選擇電子束的分析區域,掃描電鏡與能譜儀和波譜儀的組合分析不僅可檢測試樣的表面和基材的化學組分,而且更適合於檢測試樣中的夾雜物、鍍層的表面和橫截面、小污染斑的形貌,以及微觀尺寸的測量等。

    由於電子顯微分析設備在微觀分析中有廣泛的用途和諸多優點,進入新世紀以來,隨著國民經濟和科研技術的快速發展,電子顯微分析設備已成為許多行業開展微觀物質形貌和化學組分分析的主要設備及重要手段。原中國電鏡學會理事、北京市電鏡學會理事長張德添教授在2009年就估計“全國目前能夠使用的各種電子顯微鏡大概有3500~4000臺,其中掃描電鏡約2500臺,其餘的是透射電子顯微鏡;在材料學領域擁有約3000臺,生物醫學領域擁有約1000臺,而且每年以超過100臺的數量增長,顯然電子顯微鏡在材料科學和生命科學領域已經成為不可缺少的工具”。如果張德添當年的估計是準確的,那麼到目前為止全國的電鏡總數應有4300~4800臺。*近這幾年每年全國新安裝的掃描電鏡、透射電鏡、電子探針分析儀和聚焦離子束等設備的擁有量上升很快,每年全國新安裝總臺數約200多臺。這些設備中除了一部分是替代淘汰的老舊設備之外,其餘為新增分析設備。*近這幾年,每年的新增量約有200臺。每年新加入電子顯微分析隊伍的人員也在不斷擴大,包括應用、培訓、安裝維修、維護管理和銷售人員,每年新加入這行業的人員近千人,加上目前在崗的技術人員,全國總共有上萬人的隊伍。若再加上各高校相關專業師生,科研院所和企業的測試、質檢和微觀失效分析等相關技術人員,全國總共有數萬人的隊伍。這些技術人員都需要有一些不同層次的顯微分析方面的專業參考書,以便能更好地掌握和了解這類分析設備的主要結構、工作原理、應用範圍和檢測能力,特別是對一些新技術和新功能的了解。

    本書是作者器件可靠性物理及其應用技術***重點實驗室多年工作積累的基礎上撰寫完成的。為適應同行讀者的需要,在此基礎上,結合市場上新推出的掃描電鏡的一些新技術和新功能及近幾年舉辦的掃描電鏡和能譜儀原理與應用研討班的講稿進行了整理和充實。

    本書以實用為主,突出實用性以盡可能適應不同專業和層次的讀者使用,書中盡量減少數學推導,在力求用文字闡明基本原理的基礎上,盡可能做到概念清楚、圖例明確,強調動手和解決實際問題的分析測試能力。但由於電子顯微分析技術發展迅速,更新換代日新月異,涉及的領域也比較廣,而本人的知識面有限,加上成書時間較倉促,對一些新技術的資料收集還未能齊全,書中難免會存有疏漏和謬誤,懇請諸位讀者和同行批評指正,以便再版時能得到糾正。希望本書能對步入電子顯微分析的新同行有所啟發,對有一定經驗的同行尤其是從器件失效分析、材料和質量檢測的人員能有所裨益,能成為一本理論聯繫實際的實用性參考書。

    本書的編寫始於原主任餘松喬的關心和鼓勵,得到現主任恩雲飛的極力支持。在成書的過程中也得到重點實驗室諸多同仁的積極支持和幫忙,如在資料查詢、核對方面得到郝明明博士的鼎力相助;在計算機繪圖插畫方面得到肖慶中、雷志鋒和師謙等高工們的幫助和指點;在校準、審核的過程中得到郝明明、李曉倩、陳義強、方文嘯、李沙金和黎恩良等同仁的熱情幫助,他們提出了許多中肯的修改意見和寶貴的建議,在此一並表示衷心的感謝!

    另外,為了便於論述和能更完整、有效地介紹相關設備的一些新技術原理和新穎的設計及一些比較典型的結構,書中有個別地方以相關生產廠家的某個型號、個別圖片和參數為例來作為學術上的討論、講解、示範之用,除此之外絕無其他目的。在這些列舉型號和圖例中曾得到HITACHI、FEI、ZEISS、JEOL、TESCAN、 KYKY等電鏡和EDAX、BRUKER、OXFORD、NORAN等能譜儀及相關電鏡附件生產廠家的大力支持,在此表示由衷的感謝!感謝這些生產廠家的大力支持和無私幫助,感謝他們為本書提供了部分精美圖片和一些新技術及新功能的參數等信息。

    書中還有個別圖片是從同行好友或網絡上轉載而來的,有的是時間久了一時找不到出處,因而有極個別圖片暫時無法標注來源,在此非常感激原圖作者的創作精神和分享,若有熱心的讀者能發現原圖片的出處或者本書中存在的缺點和謬誤,誠懇地歡迎廣大讀者幫忙指正!**直接聯繫作者,以便再版能及時補上原文作者的名字或出處及修改謬誤。書中有的地方還選用了參考文獻中的個別圖表和照片,在此對這些圖表和照片的原作者再次表示感謝!



    施明哲

    2015年6月



     



     
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