內容簡介
晶體結構是了解固體材料性質的重要基礎,X射線粉末衍射法是提供有關晶體結構信息的主要方法之一.本書除了扼要介紹X射線衍射的晶體學基礎、化合物結構的晶體化學基本概念、X射線粉末衍射的實驗方法,以及衍射線的位置和峰形及強度的測定外,還比較繫統全面地論述了粉末衍射圖譜的指標化、點陣常數的精確測量、粉末衍射測定新型化合物晶體結構的各種方法及裡特沃爾德(Rietveld)法全譜擬合修正晶體結構、固溶體類型與超結構的測定,以及鍵價理論在離子晶體結構分析中的應用.重點闡述粉末衍射結構分析從頭計算方法.