內容簡介
在對失效分析的歷史發展、基本內涵以及失效分析的基本理論和方法進行繫統闡述的基礎上,全面闡明了機電產品的主要失效模式和機理,主要涉及了裂紋、斷口、痕跡分析技術和失效評估、斷裂、腐蝕、磨損、老化的失效分析,特別是首次在國內外較為繫統地重點介紹了失效分析作為相對獨立學科的形成和發展;電子產品的失效模式、機理和原因;斷口的定量分析和反推技術以及失效致因理論和預防。
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