內容簡介
本書首先介紹了晶體學基礎知識，然後繫統介紹了 X射線的物理基礎、X射 線衍射的方向與強度、多晶體X射線衍射分析的方法、X射線衍射儀及其在物相鋻定、宏微觀應力與晶粒尺寸的測定、多晶體的織構分析等方面的應用；介紹了電 子衍射的物理基礎、透射電子顯微銑的結構與原理、衍射成像、運動學襯度理論、高 分辨透射電子顯微技術、掃描電子顯微鏡的結構與原理、電子探針及其應用；介紹了俄歇電子能譜儀（AES)、X射線光電子能譜儀（XPS)、掃描隧道電鏡(STM)、低 能電子衍射（LEED)等常用表面分析技術和熱重分析法（TG)、差熱分析法 (DTA）、差示掃描量熱法（DSC)等常用熱分析技術的原理、特點及其應用；*後簡 要介紹了光譜分析技術，包括原子光譜、紅外光譜、激光光譜等。書中研究和測試 的材料包括金屬材料、無機非金屬材料、高分子......
