產品名稱：過電應力 EOS 器件、電路與 過電應力 是否是套裝：否 書名：過電應力 EOS 器件、電路與繫統 過電應力 過電應力 EOS 器件、電路與繫統 過電應力 代碼：79 出版社名稱：機械工業出版社 出版時間：2016年3月 作者：史蒂文 H.沃爾德曼 史蒂文 ISBN編號：9787111523185
" 過電應力(EOS)器件、電路與繫統 作 者:(美)史蒂文 H.沃爾德曼(Steven H.Voldman) 著；雷鑑銘 等 譯  定 價:79 出 版 社:機械工業出版社 出版日期:2016年03月01日 頁 數:286 裝 幀:平裝 ISBN:9787111523185  ●譯者序
●作者簡介
●原書前言
●致謝
●第1章EOS基本原理1
●1.1EOS1
●1.1.1EOS成本2
●1.1.2產品現場返回——EOS百分比2
●1.1.3產品現場返回——無缺陷與EOS3
●1.1.4產品失效——集成電路的失效3
●1.1.5EOS事件的分類3
●1.1.6過電流5
●1.1.7過電壓5
●1.1.8過電功率5
●1.2EOS解密6
●1.2.1EOS事件6
●1.3EOS源7
●1.3.1制造環境中的EOS源7
●1.3.2生產環境中的EOS源8
●1.4EOS的誤解8......  內容簡介  史蒂文H.沃爾德曼著的這本《過電應力器件電路與繫統》繫統地介紹了過電應力(EOS)器件、電路與繫統設計，並給出了大量實例，將EOS理論工程化。主要內容有EOS基礎、EOS現像、EOS成因、EOS源、EOS物理及EOS失效機制，EOS電路與繫統設計及EDA，半導體器件、電路與繫統中的。EOS失效及EOS片上與繫統設計。
本書是作者半導體器件可靠性繫列書籍的延續。對於專業模擬集成電路及射頻集成電路設計工程師，以及繫統ESD工程師具有較高的參考價值。隨著納米電子時代的到來，本書是一本重要的參考書，同時也是面向現代技術問題有益的啟示。
本書主要面向需要學習和參考EOS相關設計的工程師，或需要學習EOS相關知識的微電子科學與工程和集成電路設計專業高年級本科生和研究生。  (美)史蒂文 H.沃爾德曼(Steven H.Voldman) 著；雷鑑銘 等 譯  史蒂文 H.沃爾德曼，（Steven H.Voldman）博士由於在CMOS、SOI和SiGe工藝下的靜電放電（ESD）保護方面所作出的貢獻，而成為了ESD領域的首位IEEEFellow。他於1979年在布法羅大學獲得工程學學士學位；並於1981年在麻省理工學院（MIT）獲得了電子工程方向的一個碩士學位；後來又在MIT獲得第二個電子工程學位（工程碩士學位）；1986年他在IBM的駐地研究員計劃的支持下，從佛蒙特大學獲得了工程物理學碩士學位，並於1991年從該校獲得電子工程博士學位。他作為IBM研發團隊的一員已經有25年的歷史，主要致力於半導體器件物理、器件設計和可靠性（如軟......  原書前言
當今電子工業中，迫切需要理解EOS源、識別EOS並提供EOS可靠產品。由於制造業的不斷發展，半導體網絡規模和繫統不斷變化，可靠性的需求及EOS魯棒產品也在不斷變化。本書就是將基本EOS現像與當今真實世界環境聯繫起來。
鋻於有意義的書籍就是在今天對於片上ESD設計的教授也是有用的，本書就是使讀者對EOS有一個基本的了解。對於專家、非專家、非技術人員及普通人,了解當今世界問題也是有必要的。今天，我們周圍的現實世界的EOS問題無處不在，會發生在制造環境、電源、機械、執行器、電磁閥、電烙鐵、電纜和照明各行各業中。當有開關、接地不良，接地回路，噪聲和瞬變現像時，將會在EOS器件和印制電路板上產生一個電勢。因此，對於專家及非專家，都需要了解並處理身邊的EOS問題，進而來避免它。 "
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