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  • 導引頭通用測試基礎手冊
    該商品所屬分類:圖書 -> 科技
    【市場價】
    948-1376
    【優惠價】
    593-860
    【作者】 李陟等 
    【出版社】國防工業出版社 
    【ISBN】9787118114805
    【折扣說明】一次購物滿999元台幣免運費+贈品
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    內容介紹



    出版社:國防工業出版社
    ISBN:9787118114805
    商品編碼:40438951844

    品牌:文軒
    出版時間:2018-07-01
    代碼:148

    作者:李陟等

        
        
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    作  者:李陟 等 著
    /
    定  價:148
    /
    出 版 社:國防工業出版社
    /
    出版日期:2018年07月01日
    /
    頁  數:252
    /
    裝  幀:平裝
    /
    ISBN:9787118114805
    /
    目錄
    ●  第1章光學導引頭通用測試規範

    ●1.1範圍

    ●1.1.1主題內容

    ●1.1.2適用範圍

    ●1.2測試規範

    ●1.2.1單機性能測試

    ●1.2.2半實物仿真試驗

    ●1.2.3外場靜態跟蹤試驗

    ●1.2.4外場動態掛飛試驗

    ●第2章射頻導引頭通用測試規範

    ●部分目錄
    內容簡介
    本書共5章,主要內容有引頭單機性能測試、半實物仿真試驗、環境試驗、外場靜態試驗和外場動態試驗中各類指標的測試內容、方法和步驟;導引頭信息處理機硬件、軟件和算法的測試程序、項目和方法;準確制導領域通用技術指標、制導設備、導引頭信息處理機等名詞術語。
    作者簡介
    李陟 等 著
    李陟,中國長峰機電技術研究設計院。



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