作 者:(巴西)費爾南達·利馬·卡斯騰斯密得 (巴西)路易吉·卡羅 (巴西)裡卡多·賴斯 著作 楊孟飛 龔健 文亮 等 譯者
定 價:45
出 版 社:中國宇航出版社
出版日期:2009年12月01日
頁 數:188
裝 幀:精裝
ISBN:9787802186187
●第1章 引言
●第2章 集成電路中的輻射效應
●2.1 輻射環境概述
●2.2 集成電路中的輻射效應
●2.2.1 SEU的分類
●2.3 基於SRAM的FPGA的特有影響
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●第3章 單粒子翻轉(SEU)減緩技術
●3.1 基於設計的技術
●3.1.1 檢測技術
●3.1.2 減緩技術
●3.2 ASIC中SEU減緩技術實例
●3.3 FPGA中SEU減緩技術實例
●3.3.1 基於反熔絲的FPGA
●3.3.2 基於SRAM的FPGA
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●第4章 結構層SEU減緩技術
●第5章 高層SEU減緩技術
●5.1 針對FPGA的三模冗餘技術
●5.2 刷新
●部分目錄
《基於SRAM的FPGA容錯技術》內容簡介:廣泛應用於民用和工業領域的基於SRAM的FPGA,因其邏輯集成度高、使用方便、開發成本低且能夠被重新編程,正逐步應用於空間領域。空間領域的應用除了要求其具有很高的可靠性以外,抗輻射是必須重點考慮的問題。《基於SRAM的FPGA容錯技術》針對這種需求,尤其是針對空間環境中單粒子效應的影響,詳細介紹了基於SRAM的FPGA這種可編程結構的多種容錯技術和方法。
《基於SRAM的FPGA容錯技術》提及的技術和方法多是從實際容錯繫統中總結出來的,並進行了歸類、分析和總結,同時附有參考文獻。內容詳盡豐富,實踐性和針對性強,可作為從事容錯計算和空間電子繫統研究和設計人員的參考用書。
(巴西)費爾南達·利馬·卡斯騰斯密得 (巴西)路易吉·卡羅 (巴西)裡卡多·賴斯 著作 楊孟飛 龔健 文亮 等 譯者
費爾南達·古斯芒·德·利馬·卡斯騰斯密得,是位於巴西阿雷格裡港(Porlto Alegre)的南大河洲聯邦大學(UFRGS)計算機科學繫的教授。1997年,她從巴西阿雷格裡港南大河洲聯邦大學獲電氣工程學學士學位,1999年和2003年分別獲計算機科學碩士學位和微電子學博士學位。1999年,她曾工作於法國的格勒諾布爾(Grenoble)國家理工學院(INPG);2001年,工作於美國聖何塞(San Jose)的賽靈思( linx)公司。她的研究興趣包括超大規模集成電路(VLSI)測試和設計、故障效應、容錯技術和可編程結構。她是美國電氣和電子工程師協會(IEEE)的會員。
容錯技術的開發與目標器件緊密相關,需要詳細分析相關繫統結構中的翻轉效應。對於每一種電路,有其很適合的解決方法。在過去的幾年中,集成電路工業為了追求更好的性能、更高的邏輯密度和更低的成本而使其結構越來越復雜,例如應用專用集成電路(ASIC),有數百萬個晶體管的微處理器,高密度現場可編程門陣列(FPGA)組件以及近期新的由嵌入式微處理器、存儲器和模擬電路塊組成的片上繫統(SOC)。這些在單一芯片上提供大量信息處理能力的結構,給繫統設計帶來了重大的影響。它們的用途涵蓋了廣泛的應用領域,從便攜繫統到專用嵌入和計算機,尤其是FP-GA增加的重配置特性是繫統設計的一項重要改進,它縮短了繫統的上市時間並增加了設計的靈活性。
很近幾年,一繫列事件使。FPGA的市場份額不斷擴大,如圖1-1所示。幾等