●譯者序
●原書前言
●第1章空間輻射環境1
●1.1空間輻射效應1
●1.1.1空間輻射環境：範艾倫帶、太陽耀斑、太陽風和宇宙射線1
●1.1.2劑量效應：產生原因、對電子器件的影響、輻射強度4
●1.1.3位移效應：產生原因、對電子器件的效應、輻射強度5
●1.1.4重離子效應：產生原因、對電子器件的效應、輻射強度5
●1.1.5質子效應：產生原因（直接或間接）、對電子器件的效應、輻射強度6
●1.2其他效應7
●1.2.1原子氧：來源和效應7
●1.2.2太陽紫外線：來源和效應7
●1.2.3微流星體：來源和效應8
●1.2.4軌道碎片：來源和效應8
●參考文獻9
●第2章微電子器件的輻射效應10
●2.1引言10
●2.1.1長期效應10
●2.1.2瞬態效應11
●2.2MOS器件12
●部分目錄

本書由法國TIMA實驗室的RaoulVelazco、法國波爾多第壹大學的PascalFouillat和巴西南裡奧格蘭德聯邦大學的RicardoReis共同編著，從環境、效應、測試、評價、加固和預計等方面全面詳細介紹了嵌入式繫統中的輻射效應，主要內容包括空間輻射環境、微電子器件中的輻射效應、電子器件的在軌飛行異常、多層級故障效應評估、基於脈衝激光的單粒子效應測試和分析技術、電路的加固方法及自動化工具、輻射效應試驗測試設備以及數字架構的錯誤率預計方法等。本書內容全面、豐富且針對性強，覆蓋了電子器件及繫統輻射效應的方方面面。區別於其他電子繫統輻射效應論著，本書從工程化的角度論述空間輻射效應評估、地面模擬、軟錯誤率預計等技術以及靠前上目前優選的研究方法論，同時兼具基礎性和理論性。本書適合專業從事電子器件及繫統輻射效應研究的科研人員和工程化應用的技術人員閱讀和借鋻；同時，也可為該領域的“新人”（如研等

從１９６２年高海撥核測試導致的Ｔｅｌｅｓｔａｒ衛星失效開始，自然或人造輻射可能干擾電子設備的操作這一事實已被人們所知曉。今天，航天器高度依賴於電子學。因此，空間輻射效應必須在設計階段就予以考慮，以保證這些項目的高可靠性和安全性要求。即使宇航級器件存在，在設計和／或制造層面采用所謂的輻射效應“加固”，它們相比於同等貨架產品（ＣｏｍｍｅｒｃｉａｌＯｆｆＴｈｅＳｈｅｌｆ，ＣＯＴＳ） 的高成本和低性能導致其用於器件量產（不是專門設計用於空間） 是準強制性的。這給未來任務的可行性和成功帶來一個巨大挑戰：一方面，必須盡可能地理解空間環境的本質和變化性；另一方面，必須評價空間環境對電子器件的影響，考慮持續演化的技術和多種多樣的器件種類。    此外，隨著制造技術的持續發展，納米電子器件的特點（晶體管的尺寸、操作頻率）導致其潛在地對地球大等