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  • 半導體材料及器件的輻射效應(中國科學院大學研究生教材)(精)
    該商品所屬分類:圖書 -> 工業
    【市場價】
    540-784
    【優惠價】
    338-490
    【作者】 劉忠立高見頭 
    【出版社】國防工業出版社 
    【ISBN】9787118119299
    【折扣說明】一次購物滿999元台幣免運費+贈品
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    內容介紹



    出版社:國防工業出版社
    ISBN:9787118119299
    商品編碼:10020607896720

    品牌:文軒
    出版時間:2020-06-01
    代碼:98

    作者:劉忠立,高見頭

        
        
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    作  者:劉忠立,高見頭 著
    /
    定  價:98
    /
    出 版 社:國防工業出版社
    /
    出版日期:2020年06月01日
    /
    頁  數:383
    /
    裝  幀:精裝
    /
    ISBN:9787118119299
    /
    目錄
    ●第1章 輻射環境
    1.1 引言
    1.2 輻射環境的種類
    1.2.1 空間環境
    1.2.2 核環境
    1.2.3 高能物理實驗環境
    1.2.4 器件制造引入的輻射環境
    1.3 小結
    第2章 輻射效應相關的半導體基礎知識
    2.1 引言
    2.2 本征半導體及非本征半導體
    2.2.1 半導體能帶結構
    2.2.2 本征半導體
    2.2.3 非本征半導體
    2.2.4 淺能級、深能級、雜質的補償作用
    2.3 半導體中載流子的產生及復合
    2.3.1 載流子的產生
    2.3.2 載流子的復合
    2.4 載流子的遷移率
    2.4.1 遷移率的特性
    2.4.2 載流子的擴散繫數
    2.5 PN結二級管
    2.6 肖特基結二極管
    2.7 MOS電容及MOSFET
    2.7.1 表面勢
    2.7.2 耗盡層
    2.7.3 表面反型層
    2.7.4 MOS電容
    2.7.5 MOSFET
    2.8 直接有輻射環境的半導體工藝
    2.8.1 NMOSFET工藝流程
    2.8.2 離子注入摻雜
    2.8.3 干法刻蝕
    2.9 小結
    第3章 輻射效應的一般概念
    3.1 引言
    3.2 輻射劑量學
    3.2.1 帶電粒子在物質中的能量損失
    3.2.2 能量損失率
    3.2.3 核反應
    3.2.4 吸收劑量
    3.2.5 電離輻射劑量的測量方法
    3.3 電離輻射效應
    3.3.1 光電效應
    3.3.2 康普頓散射效應
    3.3.3 吸收劑量同線性能量轉移(LET)函數的關繫
    3.4 位移損傷
    3.5 輻射損傷對器件特性的影響
    3.5.1 電離輻射
    3.5.2 位移損傷
    3.6 常用的輻射缺陷分析方法概述
    3.6.1 紅外光譜
    3.6.2 電子順磁共振方法
    ……
    第4章 半導體材料的輻射效應
    第5章 Si半導體器件的輻射效應
    第6章 CaAs半導體器件的輻射效應
    第7章 光電子器件的輻射效應
    第8章 Si集成電路的輻射效應及加固技術
    第9章 納米級CMOS集成電路的輻射效應及加固技術
    第10章 半導體器件輻射效應的一些新研究動向
    第11章 輻射效應模擬試驗及測試技術
    內容簡介
    本書共11章,結合作者30多年的研究經驗,從輻射環境及其相關半導體物理基礎知識開始,詳細介紹了各種半導體材料及器件的輻射效應機理和加固方案,並整理和分享了優選工藝輻射效應的研究動向。 本書內容全面、繫統、精煉、易於理解,可作為高等院校相關課程的教材,也可供從事微電子、光電子研究和生產的科技人員參考。
    作者簡介
    劉忠立,高見頭 著
    劉忠立,長期從事輻射加固集成電路、微傳感器及半導體功率器件研究。現任中國科學院微電子研究所特聘研究員,傳感技術國家重點實驗室學術委員會委員、北京市傳感技術實驗室學術委員會委員、中國電子學會核輻射電磁脈衝專委會委員。 高見頭,男,碩士,中國科學院微電子研究所高級工程師,長期從事半導體集成電路與功率器件輻照能力評估與抗輻照加固工作,在NSREC、TNS等國內外會議、期刊發表論文數十篇。



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