周玉、武高輝編著的《材料分析測試技術--材料X射線衍射與電子顯微分析(第2版高等學校經典暢銷教材)》介紹了用X射線衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。內容包括:X射線衍射方向與強度、多晶體分析方法及X射線衍射儀、物相分析、宏觀應力測定、晶體的極射赤面投影、多晶體織構分析、透射電鏡結構與原理、復型技術、電子衍射、衍襯成像、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時,簡要介紹了離子探針、低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、掃描隧道與原子力顯微鏡及X射線光電子能譜儀等顯微分析方法,書末配有實驗指導和附錄。書中的實例分析注重引入了材料微觀組織結構分析方面的新成果。
本書可作為材料科學與工程學科的本科生教材或教學參考書,也可供從事材料研究及分析檢測方面工作的技術人員參考。