內容簡介
Digital Systems Testing and Testable Design一書,是全美大學生和研究生優秀教材,比較繫統地介紹了結構測試的理論和方法、可測性設計理論和度量方法、測試數據的處理及簡化的理論和方法以及智能芯片(處理器、數字信號處理器和自動機等)測試理論和方法等。該書共有15章,分為3部分。前8章為部分,主要介紹數字繫統、數字微繫統芯片缺陷的來源、邏輯描述的方法——故障的建模、故障模擬、測試單固定故障、測試橋接故障、智能數字繫統的功能測試及其範圍等;第9章~第14章是第二部分,主要介紹數字繫統的可測性設計理論和方法、建內自測試BIST測試數據壓縮方法等現代測試理論和方法;第15章足第三部分,主要討論繫統測試的方法。該書概念清晰層次分明、定義和證明準確、算法推導和闡述簡練。每章附有大量練習題可幫助讀者對於概念的消化吸收。