前言

第1章 射線檢測技術的物理基礎

1.1 射線概念

1.1.1 射線分類

1.1.2 X射線

1.1.3 γ射線

1.2 射線與物質的相互作用

1.2.1 光電效應

1.2.2 康普頓效應

1.2.3 電子對效應

1.2.4 瑞利散射

1.3 射線衰減規律

1.3.1 基本概念

1.3.2 單色窄束射線衰減規律

1.3.3 寬束連續譜射線的衰減規律

1.4 射線檢測技術的基本原理

第2章 射線機與像質計

2.1 X射線機

2.1.1 X射線機的基本結構

2.1.2 X射線管

2.1.3 X射線機的類型

2.1.4 X射線機的技術性能

2.2 γ射線機

2.3 加速器

2.4 像質計

2.4.1 像質計概述

2.4.2 射線檢測的常規像質計

2.4.3 雙絲型像質計

2.5 線對卡

第3章 輻射探測器

3.1 輻射探測器概述

3.2 輻射探測器的物理基礎

3.3 半導體輻射探測器

3.3.1 半導體輻射探測器的原理

3.3.2 半導體輻射探測器的基本結構

3.3.3 非晶硅輻射探測器

3.3.4 非晶硒輻射探測器

3.3.5 閃爍體結合CCD（或CMOS）探測器

3.4 閃爍輻射探測器

3.4.1 閃爍輻射探測器的原理與結構

3.4.2 光電倍增管

3.4.3 圖像增強器

3.4.4 IP板

3.5 氣體輻射探測器

3.6 A/D轉換器

第4章 成像過程基本理論

4.1 成像過程概念

4.2 成像過程的空間域分析

4.3 成像過程的空間頻域分析

4.4 線擴散函數、邊擴散函數與不清晰度

4.5 瑞利判據

第5章 數字圖像基本理論

5.1 數字圖像概念

5.2 圖像數字化過程

5.2.1 采樣與采樣定理

5.2.2 圖像幅值量化

5.2.3 數字化對圖像的影響

5.3 數字射線檢測圖像質量

5.3.1 數字射線檢測圖像的對比度

5.3.2 數字射線檢測圖像的空間分辨率

第6章 數字射線檢測基本技術

6.1 數字射線檢測技術的基本過程

6.2 數字射線檢測技術控制的基本關繫式

6.2.1 檢測圖像對比度

6.2.2 檢測圖像不清晰度

6.3 透照技術

6.3.1 透照布置

6.3.2 透照參數

6.3.3 放大倍數

6.3.4 散射線防護

6.4 圖像數字化技術

6.4.1 圖像數字化技術概述

6.4.2 直接數字化技術輻射探測器選擇

6.4.3 間接數字化技術的圖像數字化技術控制

6.4.4 射線源焦點尺寸選擇

6.5 圖像顯示與觀察技術

6.5.1 圖像顯示與觀察的視覺理論基礎

6.5.2 顯示器的基本性能

6.5.3 數字圖像處理技術

6.6 數字射線檢測技術近似設計

6.6.1 概述

6.6.2 檢測圖像常規像質計指標設計

6.6.3 檢測圖像空間分辨率指標設計

6.6.4 數字射線檢測技術近似設計實例

6.7 等價性問題討論

6.7.1 等價性問題概述

6.7.2 射線檢測技術繫統的分析

6.7.3 等價性具體問題分析

6.7.4 等價性厚度範圍問題的其他處理方法

第7章 常用數字射線檢測技術

7.1 分立輻射探測器直接數字化射線檢測技術

7.1.1 直接數字化射線檢測技術繫統

7.1.2 直接數字化射線檢測技術控制

7.1.3 檢測圖像質量要求與技術應用

7.2 CR技術——IP板間接數字化射線檢測技術

7.2.1 CR技術檢測繫統組成

7.2.2 CR技術控制

7.2.3 CR技術的圖像質量控制

7.3 圖像增強器間接數字化射線檢測技術

7.4 微焦點數字化射線檢測技術

第8章 底片圖像數字化掃描技術

8.1 掃描儀

8.1.1 掃描儀概述

8.1.2 掃描儀的基本性能指標

8.2 掃描技術

8.2.1 圖像掃描的基本過程

8.2.2 空間分辨率設置

8.2.3 掃描圖像的後期處理

8.3 掃描儀選用

附錄

附錄A 卷積概念與傅裡葉變換概念

附錄B 采樣定理的進一步說明

附錄C 射線照相檢測技術的缺陷檢驗理論

參考文獻