內容簡介
電阻、電容(RC)提取是設計納米制造工藝集成電路的重要步驟,通過它對集成電路中的互連線或襯底耦合效應進行電學建模,為進一步的電路性能驗證、制造良率分析提供基礎。用於RC提取的場求解器方法直接對電場進行求解,因此具有的準確度。為了滿足集成電路設計中準確建模與仿真的要求,場求解器RC提取方法正變得越來越重要。本書對刻畫超大規模集成電路互連線和混合信號集成電路襯底耦合效應的關鍵場求解器提取方法進行了全面、繫統的介紹。通過來自實際電路設計的例子,對各種場求解器算法進行了詳細闡述,並說明它們各自的優點和缺點。
本書適合於電子工程和計算機工程相關專業的研究生和學者閱讀,也可為工作在集成電路設計、設計自動化領域的技術人員提供參考。
本書適合於電子工程和計算機工程相關專業的研究生和學者閱讀,也可為工作在集成電路設計、設計自動化領域的技術人員提供參考。