第1章 緒論

1.1 計量學的內涵

1.2 計量學的特點

1.2.1 計量學的基本特點

1.2.2 國防計量的特點

1.3 計量基準和標準的基本概念

1.4 傳統計量量值傳遞存在的不足

1.5 量子計量基準

1.5.1 量子計量基準的基本概念

1.5.2 21世紀的量子計量基準

1.6 光學計量測試的研究範疇

1.7 光學計量測試的發展趨勢

1.8 光度學和光輻射計量基準的發展和演變

1.8.1 光度學基準的發展與演變

1.8.2 光輻射基準的發展與演變

1.9 常規計量與非常規量限計量

1.1 0非常規量限光學計量的需求

1.1 1非常規量限光學計量的內容

1.1 2誤差與測量不確定度

1.1 2.1 測量誤差

1.1 2.2 測量不確定度

參考文獻



第2章 光學量子計量基礎

2.1 量子光學基本概念

2.2 光子的基本性質

2.3 光子的簡並度

2.4 激光技術基礎知識

2.4.1 受激輻射與量子躍遷

2.4.2 激光器的組成

2.4.3 激光的基本特性

2.4.4 常用激光器件

2.5 激光與計量基準

2.5.1 激光與長度單位米的新定義

2.5.2 激光與時間單位--秒

2.5.3 激光與質量自然基準

2.5.4 激光與基本物理常數的測量

2.5.5 激光在未來計量科學中的應用

2.6 光子有關名詞術語

參考文獻



第3章 雙光子相關計量技術

3.1 雙光子相關技術概述

3.2 自發參量下轉換

3.2.1 非線性光學現像

3.2.2 非線性光學材料

3.2.3 光學非線性波長變換技術

3.3 自發參量下轉換雙光子在計量學中的應用

3.3.1 用自發參量下轉換雙光子測量探測器量子效率

3.3.2 雙光子相關測量探測器量子效率的影響因素分析

3.3.3 用自發參量下轉換雙光子測量紅外光源輻射功率

3.3.4  用相干可見光子測量紅外輻射量的理論推導

參考文獻



第4章 單光子探測技術

4.1 光電探測技術基礎

4.1.1 光電效應

4.1.2 光電效應與光電探測器

4.2 單光子探測器

4.2.1 單光子探測器的原理及種類

4.2.2 光電倍增管單光子探測器

4.2 ，3雪崩光電二極管單光子探測器

4.2.4 真空雪崩光電二極管單光子探測器

4.2.5  增強光電二極管單光子探測器

4.2.6 頻率上轉換單光子探測器

4.3 超導單光子探測技術

4.3.1 超導臨界相變單光子探測技術

4.3.2 利用超導臨界電流密度實現的單光子探測技術

4.4 光子數分辨探測技術

4.4.1 光子數分辨探測原理與分類

4.4.2 越界超導傳感光子數分辨技術

4.4.3 利用電荷積分探測器進行光子數分辨

4.4.4 利用雪崩光電二極管單光子探測技術進行光子數分辨

4.5 單光子源

4.5.1 單光子源及其應用

4.5.2 單光子發射

4.5.3 發光二極管衰減單光子源

4.5.4 激光二極管單光子源

4.5.5 量子點單光子源

4.5.6 下參量單光子源

4.6 單光子探測器主要參數的校準與檢測

4.6.1 單光子探測器主要技術指標

4.6.2 單光子探測器的量子標定

4.6.3 單光子探測器計數性能檢測

4.6.4 單光子探測器暗計數的檢測

4.6.5 單光子探測器光譜響應度測量

4.6.6 單光子探測器的線性度測量

參考文獻



第5章 光子計數技術

5.1 概述

5.2 光子計數繫統

5.2.1 光子計數的工作原理

5.2.2 基本光子計數繫統

5.2.3 補償源光子計數繫統

5.2.4 背景補償光子計數繫統

5.3 利用光子計數技術的弱光度測量

5.3.1 光通量與光子速率

5.3.2 光通量與光電子速率

5.3.3 光電子速率和微照度的測量

5.3.4 光子計數微弱光自動測量繫統

5.3.5  建立在光子計數基礎上的弱光度標準

5.4 光子計數繫統的標定

5.4.1  用光照度平方反比定律法校準線性度

5.4.2 使用發光二板管校準線性度

5.4.3 光子計數器的輻射定標

5.5 時間相關單光子計數

5.5.1 時間相關單光子計數原理

5.5.2 時間相關單光子計數繫統組成

5.6 時間分辨光子計數

5.7 光子計數技術應用實例

5.7.1 三代微光信噪比校準用弱光光源照度校準

5.7.2 光子計數技術在微脈衝激光測距中的應用

5.7.3  光子計數技術在激光脈衝探測中的應用

5.7.4 皮秒時間相關單光子計數光譜儀

參考文獻



第6章 單光子成像計量測試技術

6.1 光電成像技術基礎

6.1.1 光電成像原理

6.1.2 光電成像繫統中的核心部件

6.2 單光子計數成像原理

6.2.1 間接型探測繫統

6.2.2 直接型探測繫統

6.3 單光子成像技術的特點及性能表征

6.3.1 單光子成像技術的特點

6.3.2 單光子計數成像的性能表征

6.4 光電成像核心部件性能測試

6，4.1 光陰極性能測試

6.4.2 微通道板性能測試

6.4.3 光纖面板性能測試

6.5 光子計數成像繫統性能測試

6.5.1 光子計數像管等效背景照度測試

6.5.2 光子計數像管光子增益測試

6.5.3 光子計數像管暗計數測試

6.5.4 光子計數像管輸出信噪比的測量

6.5.5 光子計數像管調制傳遞函數的測量

6.5.6 光子計數像管分辨力的測量

6.5.7 楔條形陽極光子計數探測器成像性能的檢測

6.6 單光子成像繫統的標定

6.6.1 可見光繫統的標定

6.6.2 紫外繫統的標定

參考文獻



第7章 長度的量子計量

7.1 米和米的定義

7.2 貫徹執行米的新定義

7.3 實現米定義的穩頻激光器

7.3.1 穩頻激光和參考譜線

7.3.2 激光穩頻技術

7.3.3 抑制譜線加寬和穩頻激光器

7.4 穩頻激光器的頻率測量

……

第8章 時間頻率的量子計量

第9章 納米計量測試技術

第10章 真空紫外和極紫外計量測試

第11章 高能激光計量測試技術

第12章 超短脈衝激光時間特性測量

第13章 大件和繫統參數計量測試

第14章 微件性能測試

第15章 高反射光學薄膜高反射比測量

第16章 大尺寸光學材料參數計量測試技術