內容簡介
瞬時電離輻射效應是電子繫統常見的一種輻射效應。瞬時電離輻射與半導體材料相互作用,感生光電流,改變器件及電路的特性和功能,影響電子繫統的可靠性。本書主要介紹核爆炸輻射環境及其效應、模擬集成電路和大規模數字集成電路的瞬時電離輻射效應、瞬時電離輻射下的脈衝寬度效應、器件級及電路級仿真方法、瞬時輻射感生閂鎖和阻鎖、瞬時電離輻射效應試驗技術、樣本空間排序法在電子器件抗瞬時電離輻射性能評估中的應用等內容。
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