內容簡介
高能宇宙射線與大氣相互作用產生大量次級中子,在半導體器件中引起中子單粒子效應,可導致電子繫統產生軟錯誤或者硬損傷,影響飛機或者臨近空間飛行器飛行的可靠性和安全性。本書主要介紹大氣中子輻射環境及建模、中子輻射模擬裝置和中子輻射環境測量技術、中子單粒子效應機理與數值模擬方法,以及實驗方法和數據處理方法,並給出單能中子源、散裂中子源、核反應堆、高山等典型環境的中子單粒子效應實驗結果。
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